光学位移测量系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410024145.5

申请日：

2014-01-20

公开(公告)号：

CN103791844B

公开(公告)日：

2014-05-14

发明(设计)人：

伍剑袁波

申请人：

申请人地址：

310027 浙江省杭州市西湖区浙大路38号

IPC主分类号：

G01B1102

IPC分类号：

代理机构：

杭州求是专利事务所有限公司 33200

代理人：

韩介梅

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-06-11	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101582903159 IPC(主分类):G01B 11/02 专利申请号:2014100241455 申请日:20140120
2016-08-17	授权	授权
2022-12-30	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 11/02 申请日:20140120 授权公告日:20160817 终止日期:20220120
2014-05-14	公开	公开

共 50 条

[1]

一种光学位移测量系统 [P].

伍剑 ;

袁波 .

中国专利 :CN203687880U ,2014-07-02

[2]

光学位移测量系统、处理装置和光学位移计 [P].

藤本隆司 .

中国专利 :CN115046492A ,2022-09-13

[3]

一种光学位移测量系统 [P].

徐飞鸿 .

中国专利 :CN106595495A ,2017-04-26

[4]

一种光学位移测量系统 [P].

马军 ;

钟美鹏 ;

钭忠尚 ;

姚方周 ;

陈斌杰 ;

周余庆 .

中国专利 :CN118031809A ,2024-05-14

[5]

离心模型3D光学位移测量系统 [P].

侯瑜京 ;

温彦锋 ;

张雪东 .

中国专利 :CN103162632B ,2013-06-19

[6]

光学位移计、光学位移计调节方法、和光学位移测量方法 [P].

田村谦太郎 ;

山县正意 .

中国专利 :CN108571927A ,2018-09-25

[7]

光学位移传感器以及光学位移测量设备 [P].

鸟井友成 ;

花田智纪 .

中国专利 :CN101196570B ,2008-06-11

[8]

光学位移测量仪 [P].

谷田佳代子 ;

土谷秀树 ;

外山正明 .

中国专利 :CN85102930A ,1986-10-08

[9]

光学位移测量器 [P].

罗琪 .

中国专利 :CN206919842U ,2018-01-23

[10]

光学位移传感器 [P].

巩马理 ;

潘龙法 ;

范易伟 ;

徐端颐 .

中国专利 :CN2047780U ,1989-11-15

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