基于底侧面两圈标准差多项式模型的粮仓检测方法及系统

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专利类型
发明
申请号
CN201810912126.4
申请日
2018-08-10
公开(公告)号
CN110823347A
公开(公告)日
2020-02-21
发明(设计)人
张德贤 张苗
申请人
申请人地址
450001 河南省郑州市高新技术产业开发区莲花街100号
IPC主分类号
G01G1704
IPC分类号
代理机构
郑州睿信知识产权代理有限公司 41119
代理人
崔旭东
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
基于侧面两圈标准差多项式模型的粮仓检测方法及系统 [P]. 
张德贤 ;
张苗 .
中国专利 :CN110823341A ,2020-02-21
[2]
基于底面两圈标准差多项式模型的粮仓检测方法及系统 [P]. 
张德贤 ;
张苗 .
中国专利 :CN110823340A ,2020-02-21
[3]
基于侧面单圈标准差多项式模型的粮仓检测方法及系统 [P]. 
张德贤 ;
张苗 .
中国专利 :CN110823342B ,2020-02-21
[4]
基于底面单圈标准差多项式模型的粮仓检测方法及系统 [P]. 
张德贤 .
中国专利 :CN110823335A ,2020-02-21
[5]
基于底面两圈标准差SVM模型的粮仓检测方法及系统 [P]. 
张德贤 ;
张苗 .
中国专利 :CN110823348A ,2020-02-21
[6]
基于底面两圈标准差SVM指数模型的粮仓检测方法及系统 [P]. 
张德贤 ;
张苗 .
中国专利 :CN110823345B ,2020-02-21
[7]
基于底面两圈标准差SVM对数模型的粮仓检测方法及系统 [P]. 
张德贤 ;
张苗 .
中国专利 :CN110823344B ,2020-02-21
[8]
基于底面单圈大小值多项式模型的粮仓检测方法及系统 [P]. 
张德贤 ;
张苗 .
中国专利 :CN110823343B ,2020-02-21
[9]
基于底面单圈标准差对数模型的粮仓检测方法及系统 [P]. 
张德贤 ;
张苗 .
中国专利 :CN110823338A ,2020-02-21
[10]
基于底面单圈标准差指数模型的粮仓检测方法及系统 [P]. 
张德贤 ;
张苗 .
中国专利 :CN110823346B ,2020-02-21