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基于底面单圈大小值多项式模型的粮仓检测方法及系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201810910967.1
申请日
:
2018-08-10
公开(公告)号
:
CN110823343B
公开(公告)日
:
2020-02-21
发明(设计)人
:
张德贤
张苗
申请人
:
申请人地址
:
450001 河南省郑州市高新技术产业开发区莲花街100号
IPC主分类号
:
G01G1704
IPC分类号
:
代理机构
:
郑州睿信知识产权代理有限公司 41119
代理人
:
吴敏
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-02-21
公开
公开
2020-05-12
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01G 17/04 申请日:20180810
2021-04-09
授权
授权
共 50 条
[1]
基于底面单圈标准差多项式模型的粮仓检测方法及系统
[P].
张德贤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张德贤
.
中国专利
:CN110823335A
,2020-02-21
[2]
基于底面两圈标准差多项式模型的粮仓检测方法及系统
[P].
张德贤
论文数:
0
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0
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0
张德贤
;
张苗
论文数:
0
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0
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张苗
.
中国专利
:CN110823340A
,2020-02-21
[3]
基于侧面单圈标准差多项式模型的粮仓检测方法及系统
[P].
张德贤
论文数:
0
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0
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0
张德贤
;
张苗
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0
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0
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张苗
.
中国专利
:CN110823342B
,2020-02-21
[4]
基于侧面两圈标准差多项式模型的粮仓检测方法及系统
[P].
张德贤
论文数:
0
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0
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0
张德贤
;
张苗
论文数:
0
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0
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张苗
.
中国专利
:CN110823341A
,2020-02-21
[5]
基于底侧面两圈标准差多项式模型的粮仓检测方法及系统
[P].
张德贤
论文数:
0
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0
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0
张德贤
;
张苗
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张苗
.
中国专利
:CN110823347A
,2020-02-21
[6]
基于底面单圈标准差指数模型的粮仓检测方法及系统
[P].
张德贤
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0
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0
张德贤
;
张苗
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张苗
.
中国专利
:CN110823346B
,2020-02-21
[7]
基于底面单圈标准差对数模型的粮仓检测方法及系统
[P].
张德贤
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张德贤
;
张苗
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张苗
.
中国专利
:CN110823338A
,2020-02-21
[8]
基于底面单圈压力传感器的粮仓状态检测方法及系统
[P].
张德贤
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0
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0
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张德贤
;
张苗
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0
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0
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张苗
.
中国专利
:CN110823337A
,2020-02-21
[9]
基于底面两圈标准差SVM对数模型的粮仓检测方法及系统
[P].
张德贤
论文数:
0
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0
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张德贤
;
张苗
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张苗
.
中国专利
:CN110823344B
,2020-02-21
[10]
基于底面两圈标准差SVM指数模型的粮仓检测方法及系统
[P].
张德贤
论文数:
0
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张德贤
;
张苗
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张苗
.
中国专利
:CN110823345B
,2020-02-21
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