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半导体激光器数值孔径自动测试设备
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201821438158.7
申请日：
2018-09-03
公开(公告)号：
CN208780433U
公开(公告)日：
2019-04-23
发明(设计)人：
文少剑
黄海翔
廖东升
申请人：
申请人地址：
518100 广东省深圳市龙华新区观澜街道上坑社区观盛五路5号泰豪科技厂区1号楼南、西三楼
IPC主分类号：
G01M1102
IPC分类号：
代理机构：
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人：
王宁
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2019-04-23 | 授权 | 授权 |