半导体激光器自动功能测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201820881954.1

申请日：

2018-06-08

公开(公告)号：

CN208283041U

公开(公告)日：

2018-12-25

发明(设计)人：

文少剑刘猛黄海翔廖东升董晓东

申请人：

申请人地址：

518100 广东省深圳市龙华新区观澜街道上坑社区观盛五路5号泰豪科技厂区1号楼南、西三楼

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

代理机构：

广州华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

吴平

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-12-25	授权	授权

共 50 条

[1]

半导体激光器自动功能测试系统 [P].

文少剑 ;

刘猛 ;

黄海翔 ;

廖东升 ;

董晓东 .

中国专利 :CN108444682A ,2018-08-24

[2]

半导体激光器综合性能测试系统 [P].

文少剑 ;

廖东升 .

中国专利 :CN209513218U ,2019-10-18

[3]

高功率半导体激光器测试系统 [P].

白端元 ;

高欣 ;

薄报学 ;

周路 ;

朱海忱 .

中国专利 :CN203606109U ,2014-05-21

[4]

半导体激光器数值孔径自动测试设备 [P].

文少剑 ;

黄海翔 ;

廖东升 .

中国专利 :CN208780433U ,2019-04-23

[5]

半导体激光器LIV测试系统 [P].

穆宏伟 ;

张彩 .

中国专利 :CN201993424U ,2011-09-28

[6]

半导体激光器测试系统 [P].

刘兴胜 ;

刘晖 ;

王昊 .

中国专利 :CN303490424S ,2015-12-09

[7]

半导体激光器测试系统 [P].

张丽雯 ;

陆耀东 ;

王涛 ;

任奕奕 ;

宋金鹏 ;

张玉莹 .

中国专利 :CN104880298B ,2015-09-02

[8]

半导体激光器测试系统 [P].

张丽雯 ;

陆耀东 ;

王涛 ;

任奕奕 ;

宋金鹏 ;

张玉莹 .

中国专利 :CN204666336U ,2015-09-23

[9]

一种半导体激光器自动老化测试系统 [P].

占临风 ;

李廷安 ;

马伟 .

中国专利 :CN117590121A ,2024-02-23

[10]

半导体激光器数值孔径自动测试设备及方法 [P].

文少剑 ;

黄海翔 ;

廖东升 .

中国专利 :CN108827603A ,2018-11-16

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