半导体激光器测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201520317536.6

申请日：

2015-05-15

公开(公告)号：

CN204666336U

公开(公告)日：

2015-09-23

发明(设计)人：

张丽雯陆耀东王涛任奕奕宋金鹏张玉莹

申请人：

申请人地址：

100010 北京市东城区东皇城根北街甲20号

IPC主分类号：

G01M1100

IPC分类号：

代理机构：

北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205

代理人：

张洋;黄健

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-09-23	授权	授权
2018-04-17	避免重复授权放弃专利权	避免重复授予专利权 IPC(主分类):G01M 11/00 申请日:20150515 授权公告日:20150923 放弃生效日:20180417

共 50 条

[1]

半导体激光器测试系统 [P].

张丽雯 ;

陆耀东 ;

王涛 ;

任奕奕 ;

宋金鹏 ;

张玉莹 .

中国专利 :CN104880298B ,2015-09-02

[2]

半导体激光器测试系统 [P].

刘兴胜 ;

刘晖 ;

王昊 .

中国专利 :CN303490424S ,2015-12-09

[3]

半导体激光器LIV测试系统 [P].

穆宏伟 ;

张彩 .

中国专利 :CN201993424U ,2011-09-28

[4]

半导体激光器的测试系统 [P].

钟绪浪 ;

朱宝华 ;

王瑾 ;

陆业钊 ;

高云峰 .

中国专利 :CN106679937A ,2017-05-17

[5]

半导体激光器离线测试方法 [P].

张丽雯 ;

陆耀东 ;

王涛 ;

任奕奕 ;

宋金鹏 ;

张玉莹 .

中国专利 :CN104880659A ,2015-09-02

[6]

半导体激光器老化测试系统及方法 [P].

成磊 ;

鲍亚楠 ;

韦炳兴 ;

齐东东 ;

郭麒 ;

李利 ;

李亚东 .

中国专利 :CN120275759A ,2025-07-08

[7]

半导体激光器老化测试系统及方法 [P].

成磊 ;

鲍亚楠 ;

韦炳兴 ;

齐东东 ;

郭麒 ;

李利 ;

李亚东 .

中国专利 :CN120275759B ,2025-09-26

[8]

半导体激光器模块、半导体激光器光源和半导体激光器系统 [P].

前田纯也 ;

远藤和幸 ;

大宫丈典 ;

森田刚德 ;

吉田治正 ;

宫岛博文 .

中国专利 :CN104914518A ,2015-09-16

[9]

半导体激光器 [P].

张威东 ;

张文杰 ;

杨芳 .

中国专利 :CN206022887U ,2017-03-15

[10]

半导体激光器自动功能测试系统 [P].

文少剑 ;

刘猛 ;

黄海翔 ;

廖东升 ;

董晓东 .

中国专利 :CN208283041U ,2018-12-25

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