共 50 条
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
X光检查系统、X光成像附件、样品支架、套件和使用X光检查系统的方法
被引：0
申请号：
CN202180041619.5
申请日：
2021-06-08
公开(公告)号：
CN115698689A
公开(公告)日：
2023-02-03
发明(设计)人：
比尔·瓦尔克
大卫·苏顿
申请人：
申请人地址：
美国俄亥俄州
IPC主分类号：
G01N23046
IPC分类号：
代理机构：
中原信达知识产权代理有限责任公司 11219
代理人：
沈同全;车文
法律状态：
公开
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2023-02-03 | 公开 | 公开 |