X光检查设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201580018573.X

申请日：

2015-04-03

公开(公告)号：

CN106461577A

公开(公告)日：

2017-02-22

发明(设计)人：

约翰·廷吉威廉·T·瓦尔克菲丽·金西蒙·怀特凯特·斯图尔特

申请人：

申请人地址：

美国俄亥俄州

IPC主分类号：

G01N23083

IPC分类号：

G01N2304 G01N2302

代理机构：

中原信达知识产权代理有限责任公司 11219

代理人：

沈同全;车文

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-02-22	公开	公开
2019-12-20	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N 23/083 申请公布日:20170222
2017-03-22	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101708777682 IPC(主分类):G01N 23/083 专利申请号:201580018573X 申请日:20150403

共 50 条

[1]

用于检查半导体晶片的X光检查设备 [P].

约翰·廷吉 ;

威廉·T·瓦尔克 ;

凯特·斯图尔特 .

中国专利 :CN115015299A ,2022-09-06

[2]

用于检查半导体晶片的X光检查设备 [P].

约翰·廷吉 ;

威廉·T·瓦尔克 ;

凯特·斯图尔特 .

中国专利 :CN106164655A ,2016-11-23

[3]

用于检查半导体晶片的X光检查设备 [P].

威廉·T·瓦尔克 ;

西蒙·怀特 .

中国专利 :CN106164656A ,2016-11-23

[4]

用于检查半导体晶片的X光检查设备 [P].

威廉·T·瓦尔克 ;

菲丽·金 .

中国专利 :CN106170226B ,2016-11-30

[5]

X光检查装置 [P].

栉引敬嗣 .

中国专利 :CN1932492A ,2007-03-21

[6]

X光检查系统、X光成像附件、样品支架、套件和使用X光检查系统的方法 [P].

比尔·瓦尔克 ;

大卫·苏顿 .

中国专利 :CN115698689A ,2023-02-03

[7]

半自动X光检查机 [P].

李丛生 ;

徐地华 ;

梅领亮 .

中国专利 :CN302429465S ,2013-05-08

[8]

X光检查机 [P].

徐地华 ;

梅领亮 ;

吴敏 .

中国专利 :CN301531990S ,2011-04-27

[9]

X光检查机 [P].

梅领亮 ;

徐地华 ;

吴敏 .

中国专利 :CN301185624S ,2010-05-05

[10]

一种X光检查机 [P].

张建文 ;

徐地明 ;

贺恪 ;

余满江 ;

廖志斌 ;

徐地华 ;

梅领亮 .

中国专利 :CN206638608U ,2017-11-14

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