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多芯片多功能测试系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202010169555.4
申请日
:
2020-03-12
公开(公告)号
:
CN111308321A
公开(公告)日
:
2020-06-19
发明(设计)人
:
阙石男
申请人
:
申请人地址
:
215000 江苏省苏州市相城区渭塘镇澄阳路3366号
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
代理机构
:
苏州市指南针专利代理事务所(特殊普通合伙) 32268
代理人
:
严明
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-11-18
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20200312
2020-06-19
公开
公开
共 50 条
[1]
一种多芯片多功能高压测试设备
[P].
钟政峰
论文数:
0
引用数:
0
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0
钟政峰
.
中国专利
:CN215575512U
,2022-01-18
[2]
多功能测试系统
[P].
毛伟文
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0
毛伟文
;
陈明秋
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陈明秋
.
中国专利
:CN205484615U
,2016-08-17
[3]
多功能测试系统
[P].
叶飞
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0
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0
叶飞
;
王海鸥
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王海鸥
;
李艳艳
论文数:
0
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0
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李艳艳
;
李文馨
论文数:
0
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0
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李文馨
.
中国专利
:CN115684958A
,2023-02-03
[4]
PCB多功能测试系统
[P].
余品胜
论文数:
0
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0
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0
余品胜
.
中国专利
:CN201191315Y
,2009-02-04
[5]
芯片功能测试系统与芯片
[P].
陆亚军
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机构:
上海慧能泰半导体科技有限公司
上海慧能泰半导体科技有限公司
陆亚军
;
盛怀亮
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机构:
上海慧能泰半导体科技有限公司
上海慧能泰半导体科技有限公司
盛怀亮
.
中国专利
:CN120103107A
,2025-06-06
[6]
多通道芯片测试系统
[P].
吴华
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吴华
;
刘建峰
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刘建峰
;
张小丹
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张小丹
;
李承峰
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李承峰
.
中国专利
:CN104808134A
,2015-07-29
[7]
多芯片测试系统及其测试方法
[P].
金志仁
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金志仁
;
陈琏锋
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0
陈琏锋
.
中国专利
:CN102479132A
,2012-05-30
[8]
POS机多功能测试系统
[P].
马朱惠
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机构:
昆山迈致治具科技有限公司
昆山迈致治具科技有限公司
马朱惠
;
吴浩
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机构:
昆山迈致治具科技有限公司
昆山迈致治具科技有限公司
吴浩
;
杨吉平
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机构:
昆山迈致治具科技有限公司
昆山迈致治具科技有限公司
杨吉平
;
石振龙
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机构:
昆山迈致治具科技有限公司
昆山迈致治具科技有限公司
石振龙
;
甄碧莲
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机构:
昆山迈致治具科技有限公司
昆山迈致治具科技有限公司
甄碧莲
.
中国专利
:CN120412123A
,2025-08-01
[9]
双台面多功能测试系统
[P].
杨安平
论文数:
0
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0
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0
杨安平
.
中国专利
:CN205120846U
,2016-03-30
[10]
芯片测试系统
[P].
杜福建
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机构:
上海芯联芯智能科技有限公司
上海芯联芯智能科技有限公司
杜福建
.
中国专利
:CN117907794A
,2024-04-19
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