多芯片多功能测试系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010169555.4
申请日
2020-03-12
公开(公告)号
CN111308321A
公开(公告)日
2020-06-19
发明(设计)人
阙石男
申请人
申请人地址
215000 江苏省苏州市相城区渭塘镇澄阳路3366号
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
苏州市指南针专利代理事务所(特殊普通合伙) 32268
代理人
严明
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种多芯片多功能高压测试设备 [P]. 
钟政峰 .
中国专利 :CN215575512U ,2022-01-18
[2]
多功能测试系统 [P]. 
毛伟文 ;
陈明秋 .
中国专利 :CN205484615U ,2016-08-17
[3]
多功能测试系统 [P]. 
叶飞 ;
王海鸥 ;
李艳艳 ;
李文馨 .
中国专利 :CN115684958A ,2023-02-03
[4]
PCB多功能测试系统 [P]. 
余品胜 .
中国专利 :CN201191315Y ,2009-02-04
[5]
芯片功能测试系统与芯片 [P]. 
陆亚军 ;
盛怀亮 .
中国专利 :CN120103107A ,2025-06-06
[6]
多通道芯片测试系统 [P]. 
吴华 ;
刘建峰 ;
张小丹 ;
李承峰 .
中国专利 :CN104808134A ,2015-07-29
[7]
多芯片测试系统及其测试方法 [P]. 
金志仁 ;
陈琏锋 .
中国专利 :CN102479132A ,2012-05-30
[8]
POS机多功能测试系统 [P]. 
马朱惠 ;
吴浩 ;
杨吉平 ;
石振龙 ;
甄碧莲 .
中国专利 :CN120412123A ,2025-08-01
[9]
双台面多功能测试系统 [P]. 
杨安平 .
中国专利 :CN205120846U ,2016-03-30
[10]
芯片测试系统 [P]. 
杜福建 .
中国专利 :CN117907794A ,2024-04-19