多功能测试系统

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申请号
CN202211251760.0
申请日
2022-10-13
公开(公告)号
CN115684958A
公开(公告)日
2023-02-03
发明(设计)人
叶飞 王海鸥 李艳艳 李文馨
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市南山区桃源街道学苑大道1088号
IPC主分类号
G01R31385
IPC分类号
G01R31389 H01M804007 H01M804082 H01M804089 H01M804537
代理机构
深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542
代理人
戴圆圆
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
多功能测试系统 [P]. 
毛伟文 ;
陈明秋 .
中国专利 :CN205484615U ,2016-08-17
[2]
PCB多功能测试系统 [P]. 
余品胜 .
中国专利 :CN201191315Y ,2009-02-04
[3]
POS机多功能测试系统 [P]. 
马朱惠 ;
吴浩 ;
杨吉平 ;
石振龙 ;
甄碧莲 .
中国专利 :CN120412123A ,2025-08-01
[4]
多芯片多功能测试系统 [P]. 
阙石男 .
中国专利 :CN111308321A ,2020-06-19
[5]
双台面多功能测试系统 [P]. 
杨安平 .
中国专利 :CN205120846U ,2016-03-30
[6]
一种多功能测试系统 [P]. 
范喜平 .
中国专利 :CN221302390U ,2024-07-09
[7]
近场远场多功能测试系统 [P]. 
阳安源 .
中国专利 :CN106970272A ,2017-07-21
[8]
一种多功能测试系统 [P]. 
吴姗珊 .
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[9]
一种多功能测试系统 [P]. 
王锐 .
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一种多功能测试系统 [P]. 
王锐 .
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