电子联锁仿真测试方法、系统、设备以及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111356640.2

申请日：

2021-11-16

公开(公告)号：

CN114064371A

公开(公告)日：

2022-02-18

发明(设计)人：

陈禹霖田其飞

申请人：

申请人地址：

100070 北京市丰台区智成北街3号院交控大厦1号楼1层101室

IPC主分类号：

G06F1122

IPC分类号：

G06F1126

代理机构：

北京华专卓海知识产权代理事务所(普通合伙) 11664

代理人：

王一

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-03-08	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/22 申请日:20211116
2022-02-18	公开	公开

共 50 条

[1]

联锁自动化测试系统、方法、设备以及存储介质 [P].

朱昆 ;

吴家元 ;

陈磊 .

中国专利 :CN113835413A ,2021-12-24

[2]

仿真测试方法、仿真测试装置，设备以及计算机存储介质 [P].

赵世杰 ;

马仁智 .

中国专利 :CN120086129A ,2025-06-03

[3]

刚度仿真测试方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

刘一杰 .

中国专利 :CN115544653A ,2022-12-30

[4]

测试方法、测试系统、电子设备以及存储介质 [P].

王彬 .

中国专利 :CN117723323A ,2024-03-19

[5]

一种仿真测试方法、系统、设备以及存储介质 [P].

张红兵 .

中国专利 :CN117909244A ,2024-04-19

[6]

联锁系统的仿真方法、装置、设备和存储介质 [P].

饶克克 ;

吴正中 ;

张辉 ;

王乐之 ;

杨泽皓 ;

李振威 ;

邓能文 .

中国专利 :CN119903642A ,2025-04-29

[7]

仿真测试方法及存储介质、仿真测试设备 [P].

孙洁 ;

刘孝壮 ;

何召锋 .

中国专利 :CN119861275A ,2025-04-22

[8]

仿真测试方法、系统、设备及存储介质 [P].

刘禹 .

中国专利 :CN115598998A ,2023-01-13

[9]

仿真方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

胡明寅 ;

吴伟 ;

谷靖 .

中国专利 :CN116011101B ,2025-11-28

[10]

系统测试方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

杨德宽 .

中国专利 :CN114328047B ,2025-12-05

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