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用于处理电子器件的系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN200410101440.2
申请日
:
2004-12-20
公开(公告)号
:
CN1665012A
公开(公告)日
:
2005-09-07
发明(设计)人
:
郑志华
曾海峰
杨智逸
谢泓龙
申请人
:
申请人地址
:
香港新界葵涌工业街16-22号屈臣氏中心20楼
IPC主分类号
:
H01L2166
IPC分类号
:
H01L2150
H01L2100
H05K1300
代理机构
:
北京申翔知识产权代理有限公司
代理人
:
周春发
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2005-09-07
公开
公开
2006-12-27
实质审查的生效
实质审查的生效
2008-06-11
授权
授权
共 50 条
[1]
电子器件和用于制造电子器件的系统
[P].
S·拉斯库纳
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S·拉斯库纳
;
P·巴达拉
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P·巴达拉
;
A·巴西
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A·巴西
;
M·G·萨吉奥
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M·G·萨吉奥
;
G·弗兰科
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G·弗兰科
.
中国专利
:CN216719954U
,2022-06-10
[2]
用于处理电子器件的夹持器件
[P].
段荣
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段荣
;
何卫红
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何卫红
;
关家胜
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关家胜
.
中国专利
:CN100358123C
,2006-01-25
[3]
电子器件和用于电子器件的方法
[P].
D·罗曼
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机构:
意法半导体(鲁塞)公司
意法半导体(鲁塞)公司
D·罗曼
;
J-L·德梅斯内
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机构:
意法半导体(鲁塞)公司
意法半导体(鲁塞)公司
J-L·德梅斯内
;
L·查斯蒂龙
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机构:
意法半导体(鲁塞)公司
意法半导体(鲁塞)公司
L·查斯蒂龙
;
R·勒蒙涅尔
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机构:
意法半导体(鲁塞)公司
意法半导体(鲁塞)公司
R·勒蒙涅尔
.
法国专利
:CN116054882B
,2025-04-18
[4]
用于电子器件的测试系统
[P].
史泽棠
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史泽棠
;
蔡培伟
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蔡培伟
;
陈天宜
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陈天宜
;
司徒伟康
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司徒伟康
;
卓佐宪
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卓佐宪
.
中国专利
:CN103226177B
,2013-07-31
[5]
用于测试电子器件的系统
[P].
R·M·默滕斯
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R·M·默滕斯
;
J·E·小孔兹
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J·E·小孔兹
.
中国专利
:CN108663593A
,2018-10-16
[6]
用于电子器件的散热系统
[P].
B·哈巴
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机构:
美商艾德亚半导体接合科技有限公司
美商艾德亚半导体接合科技有限公司
B·哈巴
;
P·瓦里奥特
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机构:
美商艾德亚半导体接合科技有限公司
美商艾德亚半导体接合科技有限公司
P·瓦里奥特
;
R·坎卡尔
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机构:
美商艾德亚半导体接合科技有限公司
美商艾德亚半导体接合科技有限公司
R·坎卡尔
;
H·沈
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机构:
美商艾德亚半导体接合科技有限公司
美商艾德亚半导体接合科技有限公司
H·沈
.
美国专利
:CN118872048A
,2024-10-29
[7]
电子器件、用于制造电子器件的方法和用于操作电子器件的方法
[P].
S.比泽尔特
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S.比泽尔特
;
F.希尔勒
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F.希尔勒
;
T.考奇
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T.考奇
;
A.毛德
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A.毛德
;
F.J.桑托斯罗德里格斯
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F.J.桑托斯罗德里格斯
;
W.肖尔茨
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W.肖尔茨
;
H-J.舒尔策
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H-J.舒尔策
;
A.希雷
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A.希雷
.
中国专利
:CN104701317A
,2015-06-10
[8]
用于电子器件的面板组件及电子器件
[P].
陈思愿
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机构:
施耐德电气工业公司
施耐德电气工业公司
陈思愿
.
法国专利
:CN223273575U
,2025-08-26
[9]
电子器件以及用于电子器件的制造方法
[P].
重岁卓志
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
重岁卓志
.
日本专利
:CN119895518A
,2025-04-25
[10]
用于制造电子器件的方法和电子器件
[P].
C·施米德
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C·施米德
;
T·施伦克
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T·施伦克
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H·朱尔
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H·朱尔
;
R·佩佐尔德
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R·佩佐尔德
;
M·克莱因
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M·克莱因
;
K·霍伊泽尔
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K·霍伊泽尔
.
中国专利
:CN101933174A
,2010-12-29
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