一种低温交/直流电学性质测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910794515.6

申请日：

2019-08-27

公开(公告)号：

CN110346615A

公开(公告)日：

2019-10-18

发明(设计)人：

白一甲赵文东于朋飞冯聪聪程啟祥孟利艳

申请人：

申请人地址：

010050 内蒙古自治区呼和浩特市新城区爱民街49号

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

G01R3100

代理机构：

北京高沃律师事务所 11569

代理人：

张琳丽

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-10-18	公开	公开
2020-11-17	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 1/04 申请日:20190827

共 50 条

[1]

电离辐射场所交流电学性质的实时测试装置及测试方法 [P].

孟德超 ;

杨天宇 ;

陈余 ;

李小石 ;

杨萍 ;

王小凤 ;

周泉丰 .

中国专利 :CN115078783A ,2022-09-20

[2]

交直流电压测试装置 [P].

王春英 ;

齐安新 .

中国专利 :CN210835048U ,2020-06-23

[3]

一种直流电阻快速测试装置 [P].

王彬 ;

孙凡超 ;

孙绍坤 .

中国专利 :CN221946099U ,2024-11-01

[4]

一种直流电阻测试装置 [P].

龙雨波 .

中国专利 :CN221926482U ,2024-10-29

[5]

一种直流电阻测试装置 [P].

杨奇锋 ;

谢刚 ;

刘其永 ;

李宝 ;

贺自成 ;

张滔 .

中国专利 :CN214011364U ,2021-08-20

[6]

一种直流电阻测试装置 [P].

许建军 .

中国专利 :CN108387781A ,2018-08-10

[7]

一种直流电阻测试装置 [P].

庞永新 .

中国专利 :CN214335063U ,2021-10-01

[8]

一种直流电阻测试装置 [P].

车玲玉 ;

刘鸿丽 ;

曹娜 ;

马恒涛 ;

王秀丽 .

中国专利 :CN222087765U ,2024-11-29

[9]

一种多功能半导体电学性质快速测试装置及方法 [P].

白一甲 ;

马文路 ;

王东 ;

王宏涛 ;

黄春明 ;

王惠芬 .

中国专利 :CN106908683A ,2017-06-30

[10]

一种直流电源内阻测试装置 [P].

刘生辉 ;

麦汉源 ;

于廷文 ;

赵立文 ;

梁宇鹏 ;

王龙 ;

游祥辉 ;

张尔新 ;

伦健平 ;

李安 ;

陈照宇 .

中国专利 :CN212255487U ,2020-12-29

← 1 2 3 4 5 →