整合扫描式光学测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200710104624.8

申请日：

2007-05-18

公开(公告)号：

CN101308011B

公开(公告)日：

2008-11-19

发明(设计)人：

林耀明

申请人：

申请人地址：

518054 广东省深圳市南山区登良路天安南油工业区4栋第八层

IPC主分类号：

G01B902

IPC分类号：

G01B1130 G01B1124

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司 11127

代理人：

任默闻

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2008-11-19	公开	公开
2009-01-14	实质审查的生效	实质审查的生效
2010-06-02	授权	授权

共 50 条

[1]

扫描式玻璃色差测量装置及其测量方法 [P].

毕卫红 ;

张保军 ;

刘强 ;

付广伟 .

中国专利 :CN101620179A ,2010-01-06

[2]

旋转扫描式电磁场测量装置及测量方法 [P].

胡申 ;

高凤娟 ;

王晓博 ;

高青 .

中国专利 :CN120594901A ,2025-09-05

[3]

轮廓扫描式巷道截面面积测量系统及其测量方法 [P].

严顾鑫 ;

姚亚虎 ;

赵吉玉 ;

张浩 ;

梁军 ;

和树栋 ;

韩超 ;

陈书鹏 ;

许昊宇 .

中国专利 :CN118328910A ,2024-07-12

[4]

光学测量方法 [P].

梁洪涛 ;

张戎 ;

张厚道 ;

张晓雷 ;

张云 ;

施耀明 .

中国专利 :CN115077398B ,2025-08-12

[5]

光学测量方法 [P].

M·芬凯尔蒂 .

德国专利 :CN111721230B ,2024-06-04

[6]

光学测量方法 [P].

梁洪涛 ;

张戎 ;

张厚道 ;

张晓雷 ;

张云 ;

施耀明 .

中国专利 :CN115077398A ,2022-09-20

[7]

光学测量方法 [P].

M·芬凯尔蒂 .

中国专利 :CN111721230A ,2020-09-29

[8]

定点扫描式快速隧道断面净空测量及收敛测量方法 [P].

王浩 ;

吴惠明 ;

王旋东 ;

李刚 ;

卓发成 ;

魏新良 .

中国专利 :CN102692210A ,2012-09-26

[9]

光学测量装置及光学测量方法 [P].

高堉墐 ;

刘朝辉 ;

郑伊凯 ;

王世昌 ;

王大祥 .

中国专利 :CN103792190B ,2014-05-14

[10]

光学测量装置和光学测量方法 [P].

今泉良一 ;

谷口一郎 .

中国专利 :CN111795642A ,2020-10-20

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