晶圆缺陷分类方法及其装置、系统、电子设备和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110478016.3

申请日：

2021-04-30

公开(公告)号：

CN113095438A

公开(公告)日：

2021-07-09

发明(设计)人：

沈剑刘迪唐磊胡逸群陈建东

申请人：

申请人地址：

200333 上海市静安区江场三路238号1217室

IPC主分类号：

G06K962

IPC分类号：

G06T700

代理机构：

重庆恩洲知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 50263

代理人：

兰渝宏;熊传亚

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-07-09	公开	公开
2021-07-27	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06K 9/62 申请日:20210430

共 50 条

[1]

晶圆缺陷分类方法及其装置、系统、电子设备和存储介质 [P].

沈剑 ;

刘迪 ;

唐磊 ;

胡逸群 ;

陈建东 .

中国专利 :CN113095438B ,2024-03-15

[2]

晶圆缺陷分类方法及其装置、系统、电子设备和存储介质 [P].

沈剑 ;

刘迪 ;

唐磊 ;

胡逸群 ;

陈建东 .

中国专利 :CN117893817A ,2024-04-16

[3]

晶圆缺陷分类方法、装置、系统、电子设备和存储介质 [P].

沈剑 ;

刘迪 ;

唐磊 ;

胡逸群 ;

陈建东 .

中国专利 :CN113077462A ,2021-07-06

[4]

晶圆缺陷分类方法、装置、系统、电子设备和存储介质 [P].

沈剑 ;

刘迪 ;

唐磊 ;

胡逸群 ;

陈建东 .

中国专利 :CN113077462B ,2024-05-10

[5]

晶圆缺陷分类方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

薛坤 ;

代红兵 ;

杨开轩 ;

薛小杰 ;

公茂法 .

中国专利 :CN120823450A ,2025-10-21

[6]

晶圆缺陷分类检测方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

彭广德 ;

王睿 ;

李卫铳 ;

李卫燊 .

中国专利 :CN118038151B ,2024-08-09

[7]

晶圆缺陷分类检测方法、系统、电子设备及存储介质 [P].

彭广德 ;

王睿 ;

李卫铳 ;

李卫燊 .

中国专利 :CN118038151A ,2024-05-14

[8]

晶圆缺陷分类的方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

沈剑 ;

刘迪 ;

唐磊 ;

胡逸群 ;

陈建东 .

中国专利 :CN113096119A ,2021-07-09

[9]

晶圆缺陷分类的方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

沈剑 ;

刘迪 ;

唐磊 ;

胡逸群 ;

陈建东 .

中国专利 :CN113096119B ,2024-06-07

[10]

晶圆缺陷分类方法及晶圆缺陷分类系统、电子设备 [P].

颜元青 .

中国专利 :CN119418101A ,2025-02-11

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