一种基于测试系统的裸芯片测试装置及测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111479803.6

申请日：

2021-12-07

公开(公告)号：

CN114137396A

公开(公告)日：

2022-03-04

发明(设计)人：

孙丽丽郑宇卜令旗李苏苏朱芳

申请人：

申请人地址：

233030 安徽省蚌埠市经开区汤和路2016号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

安徽省蚌埠博源专利商标事务所(普通合伙) 34113

代理人：

杨晋弘

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-03-04	公开	公开
2022-03-22	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20211207

共 50 条

[1]

芯片测试装置、测试系统及芯片测试方法 [P].

林扬书 ;

林楷辉 ;

方坤 ;

倪建兴 .

中国专利 :CN117761520A ,2024-03-26

[2]

芯片测试装置、芯片测试系统及芯片测试方法 [P].

谢媛媛 ;

张智 ;

沈忠丽 .

中国专利 :CN120559431A ,2025-08-29

[3]

芯片测试装置、芯片测试系统及芯片测试装置的制备方法 [P].

李磊 ;

陶军磊 ;

武绍军 ;

赵南 ;

蒋尚轩 .

中国专利 :CN120142892A ,2025-06-13

[4]

一种芯片测试装置、测试系统及测试方法 [P].

刘明 ;

胡忠强 ;

关蒙萌 ;

黄豪 ;

潘伟 .

中国专利 :CN115436778A ,2022-12-06

[5]

芯片测试装置及芯片测试系统 [P].

蔡振龙 ;

基因·罗森塔尔 .

中国专利 :CN112802536A ,2021-05-14

[6]

芯片测试系统及芯片测试装置 [P].

焦继业 ;

刘俊波 ;

李辉 ;

王暾烜 .

中国专利 :CN217766725U ,2022-11-08

[7]

芯片测试装置及芯片测试系统 [P].

蔡振龙 ;

基因·罗森塔尔 .

美国专利 :CN112802536B ,2024-09-13

[8]

一种裸芯片测试夹具和一种裸芯片测试装置 [P].

汪佳娣 ;

刘贵亚 ;

丁静萍 .

中国专利 :CN210626525U ,2020-05-26

[9]

一种芯片测试装置及芯片测试系统 [P].

赵山 ;

黄建军 ;

吴永红 ;

陈建丛 ;

孙钦华 .

中国专利 :CN222353963U ,2025-01-14

[10]

一种芯片测试装置及芯片测试系统 [P].

黄永 .

中国专利 :CN117415036A ,2024-01-19

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