一种晶片缺陷检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110953360.3

申请日：

2021-08-19

公开(公告)号：

CN113706490A

公开(公告)日：

2021-11-26

发明(设计)人：

张杰周涵杜寅超陈江鹏郑学哲

申请人：

申请人地址：

215123 江苏省苏州市苏州工业园区金鸡湖大道88号人工智能产业园D1单元

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T773 G06K962 G01N2188

代理机构：

南京苏科专利代理有限责任公司 32102

代理人：

陈忠辉

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-11-26	公开	公开
2021-12-14	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20210819

共 50 条

[1]

一种晶片缺陷检测方法 [P].

张杰 ;

周涵 ;

杜寅超 ;

陈江鹏 ;

郑学哲 .

中国专利 :CN113706490B ,2024-01-12

[2]

一种晶片缺陷检测方法 [P].

高海林 ;

赵庆国 .

中国专利 :CN102269712A ,2011-12-07

[3]

一种晶片缺陷检测方法及装置 [P].

吴殿瑞 ;

王永方 ;

黄长航 ;

邵红 ;

谢新昌 .

中国专利 :CN113791033A ,2021-12-14

[4]

一种缺陷检测方法、缺陷检测系统及存储介质 [P].

杜文莉 ;

堵威 ;

曹志兴 ;

钟伟民 ;

钱锋 .

中国专利 :CN119313967A ,2025-01-14

[5]

一种组装缺陷检测方法 [P].

吴勇明 ;

金昆 ;

陈烨 .

中国专利 :CN115345817A ,2022-11-15

[6]

一种晶片缺陷检测装置及其检测方法 [P].

金国善 .

中国专利 :CN118243698A ,2024-06-25

[7]

一种外包装缺陷检测方法 [P].

龚路 .

中国专利 :CN112508090B ,2024-07-12

[8]

一种汽车齿轮生产缺陷检测方法 [P].

刘津 ;

田彬 .

中国专利 :CN118212240A ,2024-06-18

[9]

一种汽车齿轮生产缺陷检测方法 [P].

刘津 ;

田彬 .

中国专利 :CN118212240B ,2024-07-30

[10]

一种外包装缺陷检测方法 [P].

龚路 .

中国专利 :CN112508090A ,2021-03-16

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