一种芯片微调测试装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN202120762409.2
申请日
2021-04-14
公开(公告)号
CN214669456U
公开(公告)日
2021-11-09
发明(设计)人
刘坡
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市龙华新区大浪街道华宁路(西)恒昌荣星辉科技工业园第C栋第5层西边
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G01R102 G01R104
代理机构
深圳市宏德雨知识产权代理事务所(普通合伙) 44526
代理人
李捷
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种半导体芯片微调测试装置 [P]. 
王浩 ;
程尧 .
中国专利 :CN208172167U ,2018-11-30
[2]
一种半导体芯片微调测试装置 [P]. 
刘思瑜 .
中国专利 :CN213302291U ,2021-05-28
[3]
一种芯片测试装置 [P]. 
刘强 ;
王宇诚 .
中国专利 :CN222646890U ,2025-03-21
[4]
可微调的指纹芯片测试装置 [P]. 
陈东 ;
王海昌 ;
陈松 ;
姚燕杰 ;
王凯 ;
姜海光 .
中国专利 :CN208044017U ,2018-11-02
[5]
一种半导体芯片微调测试装置 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN114280448A ,2022-04-05
[6]
一种芯片批量测试装置 [P]. 
王成 ;
王超 .
中国专利 :CN222461501U ,2025-02-11
[7]
一种控制芯片测试装置 [P]. 
甄如纯 ;
彭湘溶 ;
吴俊 ;
梁雄 .
中国专利 :CN221595168U ,2024-08-23
[8]
一种用于半导体芯片的测试装置 [P]. 
马宁 .
中国专利 :CN214585860U ,2021-11-02
[9]
可除尘微调探针测试装置 [P]. 
吴承翰 ;
许美真 .
中国专利 :CN221351571U ,2024-07-16
[10]
一种大容量芯片测试装置 [P]. 
艾育林 .
中国专利 :CN216670188U ,2022-06-03