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一种芯片微调测试装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202120762409.2
申请日
:
2021-04-14
公开(公告)号
:
CN214669456U
公开(公告)日
:
2021-11-09
发明(设计)人
:
刘坡
申请人
:
申请人地址
:
518000 广东省深圳市龙华新区大浪街道华宁路(西)恒昌荣星辉科技工业园第C栋第5层西边
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
G01R102
G01R104
代理机构
:
深圳市宏德雨知识产权代理事务所(普通合伙) 44526
代理人
:
李捷
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-11-09
授权
授权
共 50 条
[1]
一种半导体芯片微调测试装置
[P].
王浩
论文数:
0
引用数:
0
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0
王浩
;
程尧
论文数:
0
引用数:
0
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0
程尧
.
中国专利
:CN208172167U
,2018-11-30
[2]
一种半导体芯片微调测试装置
[P].
刘思瑜
论文数:
0
引用数:
0
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0
刘思瑜
.
中国专利
:CN213302291U
,2021-05-28
[3]
一种芯片测试装置
[P].
刘强
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
北京芯准检测技术研究院有限公司
北京芯准检测技术研究院有限公司
刘强
;
王宇诚
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
北京芯准检测技术研究院有限公司
北京芯准检测技术研究院有限公司
王宇诚
.
中国专利
:CN222646890U
,2025-03-21
[4]
可微调的指纹芯片测试装置
[P].
陈东
论文数:
0
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0
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0
陈东
;
王海昌
论文数:
0
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0
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0
王海昌
;
陈松
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈松
;
姚燕杰
论文数:
0
引用数:
0
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0
姚燕杰
;
王凯
论文数:
0
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0
王凯
;
姜海光
论文数:
0
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0
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0
姜海光
.
中国专利
:CN208044017U
,2018-11-02
[5]
一种半导体芯片微调测试装置
[P].
不公告发明人
论文数:
0
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0
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0
不公告发明人
.
中国专利
:CN114280448A
,2022-04-05
[6]
一种芯片批量测试装置
[P].
王成
论文数:
0
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0
机构:
深圳市汇鸣洲科技有限公司
深圳市汇鸣洲科技有限公司
王成
;
王超
论文数:
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机构:
深圳市汇鸣洲科技有限公司
深圳市汇鸣洲科技有限公司
王超
.
中国专利
:CN222461501U
,2025-02-11
[7]
一种控制芯片测试装置
[P].
甄如纯
论文数:
0
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机构:
深圳市晶立达科技有限公司
深圳市晶立达科技有限公司
甄如纯
;
彭湘溶
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市晶立达科技有限公司
深圳市晶立达科技有限公司
彭湘溶
;
吴俊
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市晶立达科技有限公司
深圳市晶立达科技有限公司
吴俊
;
梁雄
论文数:
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0
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机构:
深圳市晶立达科技有限公司
深圳市晶立达科技有限公司
梁雄
.
中国专利
:CN221595168U
,2024-08-23
[8]
一种用于半导体芯片的测试装置
[P].
马宁
论文数:
0
引用数:
0
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0
马宁
.
中国专利
:CN214585860U
,2021-11-02
[9]
可除尘微调探针测试装置
[P].
吴承翰
论文数:
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机构:
江苏紫川电子科技有限公司
江苏紫川电子科技有限公司
吴承翰
;
许美真
论文数:
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机构:
江苏紫川电子科技有限公司
江苏紫川电子科技有限公司
许美真
.
中国专利
:CN221351571U
,2024-07-16
[10]
一种大容量芯片测试装置
[P].
艾育林
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
艾育林
.
中国专利
:CN216670188U
,2022-06-03
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