一种芯片批量测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202420585141.3

申请日：

2024-03-22

公开(公告)号：

CN222461501U

公开(公告)日：

2025-02-11

发明(设计)人：

王成王超

申请人：

深圳市汇鸣洲科技有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市福田区香蜜湖街道竹林社区紫竹七道17号求是大厦东座2313

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R31/01 G01R31/28

代理机构：

深圳市中科创为专利代理有限公司 44384

代理人：

彭涛;谢志龙

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-11	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片批量测试装置 [P].

桂义勇 ;

张伟祥 .

中国专利 :CN223205519U ,2025-08-08

[2]

批量测试装置 [P].

李运峰 ;

方骏飞 ;

陈立果 ;

韩明松 .

中国专利 :CN212060027U ,2020-12-01

[3]

一种热电堆芯片批量测试装置 [P].

夏贤冲 ;

严江荣 ;

颜天宝 .

中国专利 :CN212321757U ,2021-01-08

[4]

一种芯片测试装置 [P].

王华 .

中国专利 :CN214067328U ,2021-08-27

[5]

一种芯片测试装置 [P].

吉波 ;

段文军 ;

杨建军 .

中国专利 :CN220730357U ,2024-04-05

[6]

一种芯片测试装置 [P].

刘强 ;

王宇诚 .

中国专利 :CN222646890U ,2025-03-21

[7]

一种芯片测试装置 [P].

姜莉 ;

姜靖 ;

营营 ;

陈高华 ;

陈庆国 ;

文斌 ;

陆斌炎 ;

潘先文 ;

张亚男 .

中国专利 :CN207689526U ,2018-08-03

[8]

无线发射芯片简单批量测试装置 [P].

吴亚军 .

中国专利 :CN204595160U ,2015-08-26

[9]

压阻芯片批量测试装置及测试方法 [P].

王立会 ;

李月 ;

魏秋旭 ;

任艳飞 ;

张韬楠 ;

郭伟龙 ;

常文博 ;

丁丁 .

中国专利 :CN115684876A ,2023-02-03

[10]

一种芯片微调测试装置 [P].

刘坡 .

中国专利 :CN214669456U ,2021-11-09

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