一种热电堆芯片批量测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202021120719.6

申请日：

2020-06-16

公开(公告)号：

CN212321757U

公开(公告)日：

2021-01-08

发明(设计)人：

夏贤冲严江荣颜天宝

申请人：

申请人地址：

528500 广东省佛山市高明区杨和镇沧江工业园和顺路372号

IPC主分类号：

G01R3101

IPC分类号：

G01R3128 G01J514

代理机构：

佛山信智汇知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44629

代理人：

郭文娟

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-01-08	授权	授权

共 50 条

[1]

一种热电堆芯片批量测试装置及方法 [P].

夏贤冲 ;

严江荣 ;

颜天宝 .

中国专利 :CN111579915A ,2020-08-25

[2]

热电堆芯片测试装置 [P].

陈明旭 ;

杨晓寒 ;

何禹鸣 ;

周祺 ;

陈佳霞 ;

赵明浩 ;

康健力 .

中国专利 :CN120669085A ,2025-09-19

[3]

一种边缘计算设备的批量测试装置 [P].

刘星 ;

杨晓光 ;

齐文钊 .

中国专利 :CN215729731U ,2022-02-01

[4]

芯片批量测试装置 [P].

桂义勇 ;

张伟祥 .

中国专利 :CN223205519U ,2025-08-08

[5]

一种芯片批量测试装置 [P].

王成 ;

王超 .

中国专利 :CN222461501U ,2025-02-11

[6]

一种热电堆传感器的测试装置 [P].

刘永灿 .

中国专利 :CN214621496U ,2021-11-05

[7]

电池热电参数测试装置 [P].

宋刘斌 ;

肖忠良 ;

张锋 .

中国专利 :CN202583429U ,2012-12-05

[8]

一种芯片测试装置 [P].

黄孟钦 ;

肖林芳 .

中国专利 :CN221926540U ,2024-10-29

[9]

一种通信网络测试装置 [P].

程传振 ;

郑博 ;

陈磊 ;

任琳琳 ;

李卫红 ;

蔡金勇 ;

耿娜 ;

李亚超 ;

鲁永飞 .

中国专利 :CN221227547U ,2024-06-25

[10]

无线发射芯片简单批量测试装置 [P].

吴亚军 .

中国专利 :CN204595160U ,2015-08-26

← 1 2 3 4 5 →