一种芯片测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202420349007.3

申请日：

2024-02-26

公开(公告)号：

CN221926540U

公开(公告)日：

2024-10-29

发明(设计)人：

黄孟钦肖林芳

申请人：

上海深至信息科技有限公司

申请人地址：

200137 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区浦东大道720、728号16B室

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01N1/04 G01R1/02

代理机构：

广州大象飞扬知识产权代理有限公司 44745

代理人：

杨柳

法律状态：

专利权质押登记、变更及注销

国省代码：

上海市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-15	专利权质押登记、变更及注销	专利权质押登记IPC(主分类):G01R 31/28登记号:Y2025310000255登记日:20250328出质人:上海深至信息科技有限公司质权人:天津银行股份有限公司上海分行实用新型名称:一种芯片测试装置申请日:20240226授权公告日:20241029
2024-10-29	授权	授权

共 50 条

[1]

一种芯片测试装置 [P].

陆明 ;

花苗 .

中国专利 :CN220854919U ,2024-04-26

[2]

芯片测试装置 [P].

刘磊 ;

王露 ;

戴一峰 .

中国专利 :CN213302440U ,2021-05-28

[3]

一种内存芯片测试装置 [P].

吴茂兵 ;

卢焦 .

中国专利 :CN216622604U ,2022-05-27

[4]

一种电源芯片寿命测试装置 [P].

高书鹏 ;

黎华伟 .

中国专利 :CN208171335U ,2018-11-30

[5]

一种裸芯片通用测试装置 [P].

陈春雷 .

中国专利 :CN220855091U ,2024-04-26

[6]

一种光芯片的测试装置 [P].

陈俊杰 ;

柏艳飞 ;

孟怀宇 ;

沈亦晨 .

中国专利 :CN215640059U ,2022-01-25

[7]

一种芯片测试装置 [P].

何俊 ;

李涛 ;

王华伟 .

中国专利 :CN215180679U ,2021-12-14

[8]

一种芯片测试装置 [P].

余永庆 ;

唐章海 ;

王伟 .

中国专利 :CN217846551U ,2022-11-18

[9]

一种芯片测试装置 [P].

王华 .

中国专利 :CN214067328U ,2021-08-27

[10]

一种芯片测试装置 [P].

王兰松 ;

范启俊 .

中国专利 :CN223413426U ,2025-10-03

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