一种内存芯片测试装置

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申请号
CN202123224455.6
申请日
2021-12-21
公开(公告)号
CN216622604U
公开(公告)日
2022-05-27
发明(设计)人
吴茂兵 卢焦
申请人
申请人地址
230000 安徽省合肥市经济技术开发区蓬莱路1551号
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
合肥超通知识产权代理事务所(普通合伙) 34136
代理人
杨玉梅
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
内存芯片测试装置 [P]. 
陈晖 .
中国专利 :CN218240316U ,2023-01-06
[2]
芯片测试装置 [P]. 
李卫彤 ;
陈荣 ;
张欢欢 ;
朱小龙 .
中国专利 :CN217360169U ,2022-09-02
[3]
一种基于内存模组的内存芯片测试装置 [P]. 
谭少鹏 ;
田宗仁 ;
李保童 .
中国专利 :CN223401390U ,2025-09-30
[4]
多个内存芯片同时测试的测试装置 [P]. 
杨瑞 .
中国专利 :CN215417542U ,2022-01-04
[5]
一种自动化芯片测试装置 [P]. 
顾培东 ;
徐建新 .
中国专利 :CN220795401U ,2024-04-16
[6]
一种芯片功率测试装置 [P]. 
彭琪 ;
黄思琪 ;
叶杨椿 ;
徐敏敏 ;
郭庆锐 ;
苏文毅 ;
欧阳超 ;
闫大鹏 .
中国专利 :CN114325338A ,2022-04-12
[7]
内存条芯片测试装置 [P]. 
谢森华 .
中国专利 :CN207781209U ,2018-08-28
[8]
一种多个内存条芯片同时测试的测试装置 [P]. 
杨瑞 .
中国专利 :CN215813198U ,2022-02-11
[9]
一种内存芯片的测试装置和测试盒 [P]. 
伍永青 ;
程振 ;
刘旭 .
中国专利 :CN222190285U ,2024-12-17
[10]
一种芯片测试装置 [P]. 
何俊 ;
李涛 ;
王华伟 .
中国专利 :CN215180679U ,2021-12-14