芯片测试装置

被引:0
申请号
CN202123455471.6
申请日
2021-12-31
公开(公告)号
CN217360169U
公开(公告)日
2022-09-02
发明(设计)人
李卫彤 陈荣 张欢欢 朱小龙
申请人
申请人地址
519090 广东省珠海市金湾区红旗镇青年路13号1#厂房1层、2层、4层、5层A区
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
珠海智专专利商标代理有限公司 44262
代理人
林丽映
法律状态
授权
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
一种内存芯片测试装置 [P]. 
吴茂兵 ;
卢焦 .
中国专利 :CN216622604U ,2022-05-27
[2]
闪存存储芯片测试装置 [P]. 
王玉伟 ;
何静 ;
王一凡 ;
何贵银 .
中国专利 :CN223155675U ,2025-07-25
[3]
一种自动化芯片测试装置 [P]. 
顾培东 ;
徐建新 .
中国专利 :CN220795401U ,2024-04-16
[4]
芯片测试设备 [P]. 
李卫彤 ;
陈荣 ;
张欢欢 ;
朱小龙 .
中国专利 :CN114487771A ,2022-05-13
[5]
半导体芯片分选测试装置的上料输送装置 [P]. 
李永备 ;
潘小华 .
中国专利 :CN211348531U ,2020-08-25
[6]
一种芯片功率测试装置 [P]. 
彭琪 ;
黄思琪 ;
叶杨椿 ;
徐敏敏 ;
郭庆锐 ;
苏文毅 ;
欧阳超 ;
闫大鹏 .
中国专利 :CN114325338A ,2022-04-12
[7]
芯片测试装置 [P]. 
熊凯 ;
文亚东 ;
辜诗涛 ;
张亦锋 ;
袁俊 .
中国专利 :CN211086513U ,2020-07-24
[8]
芯片测试装置 [P]. 
刘琪 ;
吴伟军 ;
林德先 .
中国专利 :CN214374907U ,2021-10-08
[9]
芯片测试装置 [P]. 
沈琦崧 ;
余玉龙 .
中国专利 :CN206020601U ,2017-03-15
[10]
芯片测试装置 [P]. 
嵇杰 ;
鲁刚强 .
中国专利 :CN221148846U ,2024-06-14