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芯片测试装置
被引:0
申请号
:
CN202123455471.6
申请日
:
2021-12-31
公开(公告)号
:
CN217360169U
公开(公告)日
:
2022-09-02
发明(设计)人
:
李卫彤
陈荣
张欢欢
朱小龙
申请人
:
申请人地址
:
519090 广东省珠海市金湾区红旗镇青年路13号1#厂房1层、2层、4层、5层A区
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
代理机构
:
珠海智专专利商标代理有限公司 44262
代理人
:
林丽映
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-09-02
授权
授权
共 50 条
[1]
一种内存芯片测试装置
[P].
吴茂兵
论文数:
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吴茂兵
;
卢焦
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卢焦
.
中国专利
:CN216622604U
,2022-05-27
[2]
闪存存储芯片测试装置
[P].
王玉伟
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机构:
深圳市卓然电子有限公司
深圳市卓然电子有限公司
王玉伟
;
何静
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机构:
深圳市卓然电子有限公司
深圳市卓然电子有限公司
何静
;
王一凡
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机构:
深圳市卓然电子有限公司
深圳市卓然电子有限公司
王一凡
;
何贵银
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机构:
深圳市卓然电子有限公司
深圳市卓然电子有限公司
何贵银
.
中国专利
:CN223155675U
,2025-07-25
[3]
一种自动化芯片测试装置
[P].
顾培东
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机构:
江苏捷策创电子科技有限公司
江苏捷策创电子科技有限公司
顾培东
;
徐建新
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机构:
江苏捷策创电子科技有限公司
江苏捷策创电子科技有限公司
徐建新
.
中国专利
:CN220795401U
,2024-04-16
[4]
芯片测试设备
[P].
李卫彤
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李卫彤
;
陈荣
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陈荣
;
张欢欢
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张欢欢
;
朱小龙
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朱小龙
.
中国专利
:CN114487771A
,2022-05-13
[5]
半导体芯片分选测试装置的上料输送装置
[P].
李永备
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李永备
;
潘小华
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潘小华
.
中国专利
:CN211348531U
,2020-08-25
[6]
一种芯片功率测试装置
[P].
彭琪
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彭琪
;
黄思琪
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黄思琪
;
叶杨椿
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叶杨椿
;
徐敏敏
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徐敏敏
;
郭庆锐
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郭庆锐
;
苏文毅
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苏文毅
;
欧阳超
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欧阳超
;
闫大鹏
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闫大鹏
.
中国专利
:CN114325338A
,2022-04-12
[7]
芯片测试装置
[P].
熊凯
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熊凯
;
文亚东
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文亚东
;
辜诗涛
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辜诗涛
;
张亦锋
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张亦锋
;
袁俊
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袁俊
.
中国专利
:CN211086513U
,2020-07-24
[8]
芯片测试装置
[P].
刘琪
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刘琪
;
吴伟军
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吴伟军
;
林德先
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林德先
.
中国专利
:CN214374907U
,2021-10-08
[9]
芯片测试装置
[P].
沈琦崧
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沈琦崧
;
余玉龙
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余玉龙
.
中国专利
:CN206020601U
,2017-03-15
[10]
芯片测试装置
[P].
嵇杰
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机构:
豪威半导体(太仓)有限公司
豪威半导体(太仓)有限公司
嵇杰
;
鲁刚强
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机构:
豪威半导体(太仓)有限公司
豪威半导体(太仓)有限公司
鲁刚强
.
中国专利
:CN221148846U
,2024-06-14
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