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半导体芯片分选测试装置的上料输送装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201921448074.6
申请日
:
2019-09-02
公开(公告)号
:
CN211348531U
公开(公告)日
:
2020-08-25
发明(设计)人
:
李永备
潘小华
申请人
:
申请人地址
:
225000 江苏省扬州市江都区仙女镇工业园区江佳路
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
G01R3101
B07C502
代理机构
:
扬州云洋知识产权代理有限公司 32389
代理人
:
罗雄燕
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-08-25
授权
授权
共 50 条
[1]
一种半导体芯片分选测试装置的上料输送装置及其工作方法
[P].
李永备
论文数:
0
引用数:
0
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0
李永备
;
潘小华
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潘小华
;
芦俊
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芦俊
.
中国专利
:CN110646724A
,2020-01-03
[2]
一种半导体芯片分选测试装置的上料输送装置及其工作方法
[P].
李永备
论文数:
0
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机构:
江苏瑞芯微电子有限公司
江苏瑞芯微电子有限公司
李永备
;
潘小华
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机构:
江苏瑞芯微电子有限公司
江苏瑞芯微电子有限公司
潘小华
;
芦俊
论文数:
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0
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0
机构:
江苏瑞芯微电子有限公司
江苏瑞芯微电子有限公司
芦俊
.
中国专利
:CN110646724B
,2024-07-23
[3]
半导体芯片分选测试装置的取托盘装置
[P].
潘小华
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潘小华
;
李永备
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0
李永备
.
中国专利
:CN210995346U
,2020-07-14
[4]
半导体芯片测试装置
[P].
孙文琪
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0
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机构:
联和存储科技(江苏)有限公司
联和存储科技(江苏)有限公司
孙文琪
.
中国专利
:CN221977043U
,2024-11-08
[5]
半导体芯片测试装置
[P].
高宗英
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高宗英
;
周勇华
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周勇华
;
高凯
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高凯
;
殷岚勇
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殷岚勇
.
中国专利
:CN204359904U
,2015-05-27
[6]
半导体芯片用测试装置
[P].
李江波
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李江波
;
张成
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张成
;
姚燕杰
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姚燕杰
;
王丽
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王丽
;
位贤龙
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位贤龙
.
中国专利
:CN218003625U
,2022-12-09
[7]
半导体测试装置
[P].
刁卫斌
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机构:
扬州扬杰电子科技股份有限公司
扬州扬杰电子科技股份有限公司
刁卫斌
;
王毅
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机构:
扬州扬杰电子科技股份有限公司
扬州扬杰电子科技股份有限公司
王毅
.
中国专利
:CN221434034U
,2024-07-30
[8]
半导体芯片测试装置
[P].
桂义勇
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机构:
苏州永创智能科技有限公司
苏州永创智能科技有限公司
桂义勇
;
张伟祥
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机构:
苏州永创智能科技有限公司
苏州永创智能科技有限公司
张伟祥
.
中国专利
:CN121178458A
,2025-12-23
[9]
半导体芯片耐高压测试装置
[P].
汪良恩
论文数:
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汪良恩
.
中国专利
:CN201740845U
,2011-02-09
[10]
半导体芯片分向测试装置
[P].
汪良恩
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汪良恩
;
汪曦凌
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汪曦凌
.
中国专利
:CN204289398U
,2015-04-22
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