半导体芯片分选测试装置的上料输送装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201921448074.6
申请日
2019-09-02
公开(公告)号
CN211348531U
公开(公告)日
2020-08-25
发明(设计)人
李永备 潘小华
申请人
申请人地址
225000 江苏省扬州市江都区仙女镇工业园区江佳路
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G01R3101 B07C502
代理机构
扬州云洋知识产权代理有限公司 32389
代理人
罗雄燕
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种半导体芯片分选测试装置的上料输送装置及其工作方法 [P]. 
李永备 ;
潘小华 ;
芦俊 .
中国专利 :CN110646724A ,2020-01-03
[2]
一种半导体芯片分选测试装置的上料输送装置及其工作方法 [P]. 
李永备 ;
潘小华 ;
芦俊 .
中国专利 :CN110646724B ,2024-07-23
[3]
半导体芯片分选测试装置的取托盘装置 [P]. 
潘小华 ;
李永备 .
中国专利 :CN210995346U ,2020-07-14
[4]
半导体芯片测试装置 [P]. 
孙文琪 .
中国专利 :CN221977043U ,2024-11-08
[5]
半导体芯片测试装置 [P]. 
高宗英 ;
周勇华 ;
高凯 ;
殷岚勇 .
中国专利 :CN204359904U ,2015-05-27
[6]
半导体芯片用测试装置 [P]. 
李江波 ;
张成 ;
姚燕杰 ;
王丽 ;
位贤龙 .
中国专利 :CN218003625U ,2022-12-09
[7]
半导体测试装置 [P]. 
刁卫斌 ;
王毅 .
中国专利 :CN221434034U ,2024-07-30
[8]
半导体芯片测试装置 [P]. 
桂义勇 ;
张伟祥 .
中国专利 :CN121178458A ,2025-12-23
[9]
半导体芯片耐高压测试装置 [P]. 
汪良恩 .
中国专利 :CN201740845U ,2011-02-09
[10]
半导体芯片分向测试装置 [P]. 
汪良恩 ;
汪曦凌 .
中国专利 :CN204289398U ,2015-04-22