共 50 条
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
一种半导体芯片分选测试装置的上料输送装置及其工作方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201910821503.8
申请日：
2019-09-02
公开(公告)号：
CN110646724A
公开(公告)日：
2020-01-03
发明(设计)人：
李永备
潘小华
芦俊
申请人：
申请人地址：
225000 江苏省扬州市江都区仙女镇工业园区江佳路
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
G01R3101
B07C502
代理机构：
扬州云洋知识产权代理有限公司 32389
代理人：
罗雄燕
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2020-02-04 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20190902 |
| 2020-01-03 | 公开 | 公开 |