一种芯片功率测试装置

被引：0

申请号：

CN202111669717.1

申请日：

2021-12-31

公开(公告)号：

CN114325338A

公开(公告)日：

2022-04-12

发明(设计)人：

彭琪黄思琪叶杨椿徐敏敏郭庆锐苏文毅欧阳超闫大鹏

申请人：

申请人地址：

430000 湖北省武汉市东湖开发区高新大道999号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570

代理人：

钟勤

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-04-12	公开	公开
2022-04-29	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20211231

共 50 条

[1]

一种芯片发散角测试装置 [P].

彭琪 ;

郭庆锐 ;

余漫 ;

苏文毅 .

中国专利 :CN216900796U ,2022-07-05

[2]

一种功率芯片测试装置 [P].

杜鹏搏 ;

崔朝探 ;

陈政 ;

李天赐 ;

曲韩宾 .

中国专利 :CN217879531U ,2022-11-22

[3]

芯片测试装置 [P].

李卫彤 ;

陈荣 ;

张欢欢 ;

朱小龙 .

中国专利 :CN217360169U ,2022-09-02

[4]

一种内存芯片测试装置 [P].

吴茂兵 ;

卢焦 .

中国专利 :CN216622604U ,2022-05-27

[5]

一种功率芯片测试装置 [P].

吕小蒙 ;

张朝夕 ;

庄潮 ;

李有璐 ;

高晓芹 .

中国专利 :CN220872528U ,2024-04-30

[6]

一种自动化芯片测试装置 [P].

顾培东 ;

徐建新 .

中国专利 :CN220795401U ,2024-04-16

[7]

一种芯片测试装置 [P].

张寅 ;

凌俭波 ;

叶建明 ;

季海英 ;

祁红飞 ;

吴勇佳 .

中国专利 :CN112285534A ,2021-01-29

[8]

一种芯片测试装置 [P].

顾培东 ;

张彤 .

中国专利 :CN111965524B ,2020-11-20

[9]

一种芯片测试装置 [P].

王兰松 ;

范启俊 .

中国专利 :CN223413426U ,2025-10-03

[10]

一种芯片测试装置 [P].

冯国淇 ;

覃宗鹏 .

中国专利 :CN221993589U ,2024-11-12

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