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多个内存芯片同时测试的测试装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202122154897.1
申请日：
2021-09-07
公开(公告)号：
CN215417542U
公开(公告)日：
2022-01-04
发明(设计)人：
杨瑞
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市龙华区观澜街道大富社区大富工业区20号硅谷动力智能终端产业园A15栋501
IPC主分类号：
G11C2908
IPC分类号：
代理机构：
深圳市中科创为专利代理有限公司 44384
代理人：
徐方星;杨春
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-01-04 | 授权 | 授权 |