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一种多个内存条芯片同时测试的测试装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202122185843.1
申请日：
2021-09-09
公开(公告)号：
CN215813198U
公开(公告)日：
2022-02-11
发明(设计)人：
杨瑞
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市龙华区观澜街道大富社区大富工业区20号硅谷动力智能终端产业园A15栋501
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
G01R104
代理机构：
深圳市中科创为专利代理有限公司 44384
代理人：
何路;杨春
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-02-11 | 授权 | 授权 |