内存条测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201020122350.2

申请日：

2010-03-02

公开(公告)号：

CN201654073U

公开(公告)日：

2010-11-24

发明(设计)人：

郭志刚

申请人：

申请人地址：

215126 江苏省苏州市工业园区九江路1号

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

代理机构：

南京纵横知识产权代理有限公司 32224

代理人：

董建林

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2010-11-24	授权	授权
2012-08-22	避免重复授权放弃专利权	避免重复授权放弃专利权号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101435935901 IPC(主分类):G01R 1/04 专利号:ZL2010201223502 申请日:20100302 授权公告日:20101124 放弃生效日:20120822

共 50 条

[1]

内存条测试装置 [P].

郭志刚 .

中国专利 :CN101833998B ,2010-09-15

[2]

内存条测试装置 [P].

顾焕军 .

中国专利 :CN201069658Y ,2008-06-04

[3]

内存条芯片测试装置 [P].

谢森华 .

中国专利 :CN207781209U ,2018-08-28

[4]

内存条测试装置 [P].

顾焕军 .

中国专利 :CN101082635A ,2007-12-05

[5]

一种内存条测试装置 [P].

谭必华 ;

汤坤远 ;

李剑 ;

谭艾英 ;

李金州 .

中国专利 :CN221486147U ,2024-08-06

[6]

一种内存条性能测试装置 [P].

詹利森 .

中国专利 :CN220400231U ,2024-01-26

[7]

一种内存条插拔测试装置 [P].

郑炜佼 ;

陈超 ;

刘海波 ;

李想 .

中国专利 :CN222671888U ,2025-03-25

[8]

一种内存条信号测试装置 [P].

朱旭 ;

屠克佳 ;

黄彩明 ;

姜蕾 .

中国专利 :CN205103811U ,2016-03-23

[9]

一种内存条的THB测试装置 [P].

黄坚 ;

汪洋 .

中国专利 :CN221883786U ,2024-10-22

[10]

内存条性能测试设备 [P].

崔强 ;

陈殷 ;

胡安勤 ;

王湘玉 ;

马戎 .

中国专利 :CN208999845U ,2019-06-18

← 1 2 3 4 5 →