内存条测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN200720151318.5

申请日：

2007-07-10

公开(公告)号：

CN201069658Y

公开(公告)日：

2008-06-04

发明(设计)人：

顾焕军

申请人：

申请人地址：

215000江苏省苏州市苏州工业园区娄封分区通园路西侧

IPC主分类号：

G11C2900

IPC分类号：

代理机构：

北京华夏博通专利事务所

代理人：

王建国;安纪平

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2008-06-04	授权	授权
2010-09-22	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101005922370 IPC(主分类):G11C 29/00 专利号:ZL2007201513185 申请日:20070710 授权公告日:20080604

共 50 条

[1]

内存条测试装置 [P].

顾焕军 .

中国专利 :CN101082635A ,2007-12-05

[2]

内存条测试装置 [P].

郭志刚 .

中国专利 :CN201654073U ,2010-11-24

[3]

内存条芯片测试装置 [P].

谢森华 .

中国专利 :CN207781209U ,2018-08-28

[4]

内存条测试装置 [P].

郭志刚 .

中国专利 :CN101833998B ,2010-09-15

[5]

一种内存条测试装置 [P].

谭必华 ;

汤坤远 ;

李剑 ;

谭艾英 ;

李金州 .

中国专利 :CN221486147U ,2024-08-06

[6]

一种内存条性能测试装置 [P].

詹利森 .

中国专利 :CN220400231U ,2024-01-26

[7]

一种内存条插拔测试装置 [P].

郑炜佼 ;

陈超 ;

刘海波 ;

李想 .

中国专利 :CN222671888U ,2025-03-25

[8]

一种内存条信号测试装置 [P].

朱旭 ;

屠克佳 ;

黄彩明 ;

姜蕾 .

中国专利 :CN205103811U ,2016-03-23

[9]

一种内存条的THB测试装置 [P].

黄坚 ;

汪洋 .

中国专利 :CN221883786U ,2024-10-22

[10]

内存条性能测试设备 [P].

崔强 ;

陈殷 ;

胡安勤 ;

王湘玉 ;

马戎 .

中国专利 :CN208999845U ,2019-06-18

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