一种内存条性能测试装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202321761868.4
申请日
2023-07-06
公开(公告)号
CN220400231U
公开(公告)日
2024-01-26
发明(设计)人
詹利森
申请人
固存芯控半导体科技(苏州)有限公司
申请人地址
215200 江苏省苏州市吴江区东太湖生态旅游度假区(太湖新城)夏蓉街399号稻谷互联网产业园1号楼1703-25室
IPC主分类号
G11C29/56
IPC分类号
代理机构
苏州衡创知识产权代理事务所(普通合伙) 32329
代理人
王睿
法律状态
授权
国省代码
江苏省 苏州市
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共 50 条
[1]
内存条测试装置 [P]. 
郭志刚 .
中国专利 :CN201654073U ,2010-11-24
[2]
内存条测试装置 [P]. 
顾焕军 .
中国专利 :CN201069658Y ,2008-06-04
[3]
一种内存条测试装置 [P]. 
谭必华 ;
汤坤远 ;
李剑 ;
谭艾英 ;
李金州 .
中国专利 :CN221486147U ,2024-08-06
[4]
内存条芯片测试装置 [P]. 
谢森华 .
中国专利 :CN207781209U ,2018-08-28
[5]
内存条测试装置 [P]. 
郭志刚 .
中国专利 :CN101833998B ,2010-09-15
[6]
一种多枚内存条并行应用性能测试装置 [P]. 
包增利 .
中国专利 :CN209118772U ,2019-07-16
[7]
内存条测试装置 [P]. 
顾焕军 .
中国专利 :CN101082635A ,2007-12-05
[8]
一种多枚内存条并行应用性能测试装置 [P]. 
洪学成 .
中国专利 :CN215954838U ,2022-03-04
[9]
内存条性能测试设备 [P]. 
崔强 ;
陈殷 ;
胡安勤 ;
王湘玉 ;
马戎 .
中国专利 :CN208999845U ,2019-06-18
[10]
一种内存条插拔测试装置 [P]. 
郑炜佼 ;
陈超 ;
刘海波 ;
李想 .
中国专利 :CN222671888U ,2025-03-25