内存条性能测试设备

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201821686826.8
申请日
2018-10-18
公开(公告)号
CN208999845U
公开(公告)日
2019-06-18
发明(设计)人
崔强 陈殷 胡安勤 王湘玉 马戎
申请人
申请人地址
518110 广东省深圳市龙华新区观澜街道桂花社区观光路1231号美泰科技园2号厂房2楼
IPC主分类号
G05D2319
IPC分类号
G06F1126
代理机构
代理人
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
内存条测试设备 [P]. 
高坤 .
中国专利 :CN222530033U ,2025-02-25
[2]
内存条老化测试设备 [P]. 
何润 ;
唐敏 .
中国专利 :CN215438639U ,2022-01-07
[3]
一种用于内存条的性能测试设备 [P]. 
么文山 ;
陈云峰 ;
籍文仲 .
中国专利 :CN223140387U ,2025-07-22
[4]
一种用于内存条的性能测试设备 [P]. 
沈嘉琦 ;
谭勇 ;
王成才 ;
肖海鹏 .
中国专利 :CN220873265U ,2024-04-30
[5]
内存条测试装置 [P]. 
顾焕军 .
中国专利 :CN201069658Y ,2008-06-04
[6]
内存条测试装置 [P]. 
郭志刚 .
中国专利 :CN201654073U ,2010-11-24
[7]
模拟真实环境的内存条性能测试系统 [P]. 
崔强 ;
陈殷 ;
胡安勤 ;
王湘玉 ;
马戎 .
中国专利 :CN109445486A ,2019-03-08
[8]
一种内存条性能测试装置 [P]. 
詹利森 .
中国专利 :CN220400231U ,2024-01-26
[9]
内存条芯片测试装置 [P]. 
谢森华 .
中国专利 :CN207781209U ,2018-08-28
[10]
内存条测试装置 [P]. 
郭志刚 .
中国专利 :CN101833998B ,2010-09-15