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内存条性能测试设备
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201821686826.8
申请日
:
2018-10-18
公开(公告)号
:
CN208999845U
公开(公告)日
:
2019-06-18
发明(设计)人
:
崔强
陈殷
胡安勤
王湘玉
马戎
申请人
:
申请人地址
:
518110 广东省深圳市龙华新区观澜街道桂花社区观光路1231号美泰科技园2号厂房2楼
IPC主分类号
:
G05D2319
IPC分类号
:
G06F1126
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-06-18
授权
授权
共 50 条
[1]
内存条测试设备
[P].
高坤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
杭州海康存储科技有限公司
杭州海康存储科技有限公司
高坤
.
中国专利
:CN222530033U
,2025-02-25
[2]
内存条老化测试设备
[P].
何润
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
何润
;
唐敏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
唐敏
.
中国专利
:CN215438639U
,2022-01-07
[3]
一种用于内存条的性能测试设备
[P].
么文山
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳金百达科技有限公司
深圳金百达科技有限公司
么文山
;
陈云峰
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳金百达科技有限公司
深圳金百达科技有限公司
陈云峰
;
籍文仲
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳金百达科技有限公司
深圳金百达科技有限公司
籍文仲
.
中国专利
:CN223140387U
,2025-07-22
[4]
一种用于内存条的性能测试设备
[P].
沈嘉琦
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市金胜电子科技有限公司
深圳市金胜电子科技有限公司
沈嘉琦
;
谭勇
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
深圳市金胜电子科技有限公司
深圳市金胜电子科技有限公司
谭勇
;
王成才
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳市金胜电子科技有限公司
深圳市金胜电子科技有限公司
王成才
;
肖海鹏
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳市金胜电子科技有限公司
深圳市金胜电子科技有限公司
肖海鹏
.
中国专利
:CN220873265U
,2024-04-30
[5]
内存条测试装置
[P].
顾焕军
论文数:
0
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0
顾焕军
.
中国专利
:CN201069658Y
,2008-06-04
[6]
内存条测试装置
[P].
郭志刚
论文数:
0
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0
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0
郭志刚
.
中国专利
:CN201654073U
,2010-11-24
[7]
模拟真实环境的内存条性能测试系统
[P].
崔强
论文数:
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崔强
;
陈殷
论文数:
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陈殷
;
胡安勤
论文数:
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0
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胡安勤
;
王湘玉
论文数:
0
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0
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0
王湘玉
;
马戎
论文数:
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0
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0
马戎
.
中国专利
:CN109445486A
,2019-03-08
[8]
一种内存条性能测试装置
[P].
詹利森
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
固存芯控半导体科技(苏州)有限公司
固存芯控半导体科技(苏州)有限公司
詹利森
.
中国专利
:CN220400231U
,2024-01-26
[9]
内存条芯片测试装置
[P].
谢森华
论文数:
0
引用数:
0
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0
谢森华
.
中国专利
:CN207781209U
,2018-08-28
[10]
内存条测试装置
[P].
郭志刚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郭志刚
.
中国专利
:CN101833998B
,2010-09-15
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