一种易操作的内存条测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421645774.5

申请日：

2024-07-12

公开(公告)号：

CN222939662U

公开(公告)日：

2025-06-03

发明(设计)人：

李庆湧胡馨予柳鹏飞

申请人：

深圳市融创通达科技有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区科技南十二路18号长虹科技大厦1609

IPC主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

代理机构：

武汉舜明知识产权代理事务所(普通合伙) 42340

代理人：

林娟

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-03	授权	授权

共 50 条

[1]

内存条测试装置 [P].

郭志刚 .

中国专利 :CN201654073U ,2010-11-24

[2]

内存条测试装置 [P].

顾焕军 .

中国专利 :CN201069658Y ,2008-06-04

[3]

一种内存条测试装置 [P].

谭必华 ;

汤坤远 ;

李剑 ;

谭艾英 ;

李金州 .

中国专利 :CN221486147U ,2024-08-06

[4]

内存条芯片测试装置 [P].

谢森华 .

中国专利 :CN207781209U ,2018-08-28

[5]

内存条测试装置 [P].

郭志刚 .

中国专利 :CN101833998B ,2010-09-15

[6]

内存条测试装置 [P].

顾焕军 .

中国专利 :CN101082635A ,2007-12-05

[7]

一种内存条性能测试装置 [P].

詹利森 .

中国专利 :CN220400231U ,2024-01-26

[8]

一种内存条插拔测试装置 [P].

郑炜佼 ;

陈超 ;

刘海波 ;

李想 .

中国专利 :CN222671888U ,2025-03-25

[9]

一种内存条信号测试装置 [P].

朱旭 ;

屠克佳 ;

黄彩明 ;

姜蕾 .

中国专利 :CN205103811U ,2016-03-23

[10]

一种多个内存条芯片同时测试的测试装置 [P].

杨瑞 .

中国专利 :CN215813198U ,2022-02-11

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