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一种可同时测试多个待测芯片的测试装置
被引：0
申请号：
CN202221174420.8
申请日：
2022-05-10
公开(公告)号：
CN217404471U
公开(公告)日：
2022-09-09
发明(设计)人：
王玉伟
何静
王一凡
何贵银
申请人：
申请人地址：
518116 广东省深圳市龙岗区龙岗街道南联社区植物园路7号刘屋工业区第3栋一楼
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
G01R104
代理机构：
深圳华屹智林知识产权代理事务所(普通合伙) 44785
代理人：
华江瑞
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-09-09 | 授权 | 授权 |