可同时测试多个待测物的装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN200520011965.7

申请日：

2005-05-09

公开(公告)号：

CN2909278Y

公开(公告)日：

2007-06-06

发明(设计)人：

郑为元曾力民

申请人：

申请人地址：

台湾省桃园县

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

G01R31317

代理机构：

北京市柳沈律师事务所

代理人：

蒲迈文;黄小临

法律状态：

专利权的终止(未缴年费专利权终止)

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2009-07-29	专利权的终止(未缴年费专利权终止)	专利权的终止(未缴年费专利权终止)
2007-06-06	授权	授权

共 50 条

[1]

一种可同时测试多个待测芯片的测试装置 [P].

黄辉 .

中国专利 :CN212160005U ,2020-12-15

[2]

一种可同时测试多个待测芯片的测试装置 [P].

王玉伟 ;

何静 ;

王一凡 ;

何贵银 .

中国专利 :CN217404471U ,2022-09-09

[3]

一种可同时测试多个待测芯片的测试装置 [P].

李永刚 ;

李佳慧 .

中国专利 :CN220438490U ,2024-02-02

[4]

多个待测物诊断输出 [P].

安东尼·舒伯尔 .

中国专利 :CN101878426A ,2010-11-03

[5]

待测物表面阻抗测试装置 [P].

陈迪 ;

徐民 ;

刘力铭 ;

张宇博 ;

吴东驰 .

中国专利 :CN223296051U ,2025-09-02

[6]

待测物测试计 [P].

S·A·赛姆 ;

L·博伊德 ;

G·M·盖洛韦 ;

L·卡巴纳 ;

B·K·温杜斯-史密斯 .

中国专利 :CN3479185D ,2005-10-05

[7]

待测物插拔装置 [P].

洪惇识 ;

林坤泉 .

中国专利 :CN2366851Y ,2000-03-01

[8]

可同时测试多个LCM的夹具 [P].

刘嘉 ;

何志奇 .

中国专利 :CN2837855Y ,2006-11-15

[9]

检测待测物的基台装置 [P].

刘峻 .

中国专利 :CN207576453U ,2018-07-06

[10]

可同时测试多个样件耐久性的装置 [P].

林健华 ;

林耀波 ;

杨军 ;

吕凡磊 .

中国专利 :CN206038293U ,2017-03-22

← 1 2 3 4 5 →