检测待测物的基台装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201721493454.2
申请日
2017-11-10
公开(公告)号
CN207576453U
公开(公告)日
2018-07-06
发明(设计)人
刘峻
申请人
申请人地址
200092 上海市虹口区四平路257号名义16H室
IPC主分类号
B01L900
IPC分类号
B01L906
代理机构
代理人
法律状态
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国省代码
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共 50 条
[1]
待测物插拔装置 [P]. 
洪惇识 ;
林坤泉 .
中国专利 :CN2366851Y ,2000-03-01
[2]
一种待测物夹紧装置 [P]. 
吴金亮 ;
麻富龙 ;
徐显朋 ;
崔宇琴 ;
王莹 ;
郭旋旋 ;
田斯源 ;
许诺 ;
刘庆吉 ;
李梅旭 ;
王腾 .
中国专利 :CN222537495U ,2025-02-28
[3]
SAR待测物定位装置 [P]. 
汪晓波 ;
凌晨 .
中国专利 :CN220279382U ,2024-01-02
[4]
用于待测物外观的影像感测装置及其检测系统 [P]. 
胡哲玮 ;
蔡鸿儒 ;
方志恒 .
中国专利 :CN203337558U ,2013-12-11
[5]
待测物的检测方法和检测设备 [P]. 
何小凤 ;
李青格乐 ;
王岩松 .
中国专利 :CN119008456A ,2024-11-22
[6]
待测物的检测方法和检测设备 [P]. 
何小凤 ;
李青格乐 ;
王岩松 .
中国专利 :CN119008456B ,2025-11-18
[7]
检测待测物的试剂及其方法 [P]. 
G·P·雷 ;
G·S·阿加沃 ;
S·M·P·雷杰 ;
K·瑟卡拉 ;
A·K·苏德 ;
A·S·尼吉 .
中国专利 :CN101680894A ,2010-03-24
[8]
加速待测物老化的设备 [P]. 
郭钟亮 ;
秦海岩 .
中国专利 :CN203688421U ,2014-07-02
[9]
可同时测试多个待测物的装置 [P]. 
郑为元 ;
曾力民 .
中国专利 :CN2909278Y ,2007-06-06
[10]
量测待测物长度的系统及方法 [P]. 
陈吉宝 .
中国专利 :CN104729443A ,2015-06-24