量测待测物长度的系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310694088.7

申请日：

2013-12-18

公开(公告)号：

CN104729443A

公开(公告)日：

2015-06-24

发明(设计)人：

陈吉宝

申请人：

申请人地址：

518109 广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号

IPC主分类号：

G01B2102

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

发明专利申请公布后的视为撤回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-08-04	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101756609781 IPC(主分类):G01B 21/02 专利申请号:2013106940887 申请公布日:20150624
2015-06-24	公开	公开

共 50 条

[1]

量测待测物散射参数的方法 [P].

文圣友 .

中国专利 :CN102841261A ,2012-12-26

[2]

量测待测物表面轮廓的装置及方法 [P].

许华珍 ;

童启弘 ;

张中柱 .

中国专利 :CN1673670A ,2005-09-28

[3]

待测物特征值的量测系统、其手持装置及其量测方法 [P].

刘晓萍 .

中国专利 :CN106101354A ,2016-11-09

[4]

量测装置、量测补偿系统、量测方法及量测补偿方法 [P].

李想 .

中国专利 :CN115597510A ,2023-01-13

[5]

量测系统与量测方法 [P].

张钰林 ;

童凯炀 ;

林茂青 .

中国专利 :CN107966625A ,2018-04-27

[6]

振动的光学量测方法及光学量测系统 [P].

侯博勋 ;

陈鹏仁 ;

陈嘉昌 .

中国专利 :CN101750142A ,2010-06-23

[7]

待测物的接触检查系统 [P].

姜富元 ;

陈昭旭 ;

王耀南 .

中国专利 :CN101846710B ,2010-09-29

[8]

待测物图像校正方法及系统 [P].

吴益盛 ;

曹凯翔 .

中国专利 :CN114742743B ,2025-12-23

[9]

待测物图像校正方法及系统 [P].

吴益盛 ;

曹凯翔 .

中国专利 :CN114742743A ,2022-07-12

[10]

光学量测系统、光学量测装置及其量测方法 [P].

吴世傑 ;

林典瑩 ;

林辰泰 ;

庄世昌 .

中国专利 :CN109282750B ,2019-01-29

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