待测物的接触检查系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200910131241.9

申请日：

2009-04-10

公开(公告)号：

CN101846710B

公开(公告)日：

2010-09-29

发明(设计)人：

姜富元陈昭旭王耀南

申请人：

申请人地址：

518054 广东省深圳市南山区登良路天安南油工业区4栋第八层

IPC主分类号：

G01R3102

IPC分类号：

代理机构：

北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006

代理人：

梁挥;祁建国

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2010-09-29	公开	公开
2010-11-17	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101016484858 IPC(主分类):G01R 31/02 专利申请号:2009101312419 申请日:20090410
2012-12-19	授权	授权

共 50 条

[1]

量测待测物长度的系统及方法 [P].

陈吉宝 .

中国专利 :CN104729443A ,2015-06-24

[2]

待测物的辅助对位方法与其系统 [P].

汪光夏 ;

邱诗彰 ;

吕彦德 ;

曹育铭 .

中国专利 :CN103424407A ,2013-12-04

[3]

待测物插拔装置 [P].

洪惇识 ;

林坤泉 .

中国专利 :CN2366851Y ,2000-03-01

[4]

待测物测试计 [P].

S·A·赛姆 ;

L·博伊德 ;

G·M·盖洛韦 ;

L·卡巴纳 ;

B·K·温杜斯-史密斯 .

中国专利 :CN3479185D ,2005-10-05

[5]

量测待测物散射参数的方法 [P].

文圣友 .

中国专利 :CN102841261A ,2012-12-26

[6]

加速待测物老化的设备 [P].

郭钟亮 ;

秦海岩 .

中国专利 :CN203688421U ,2014-07-02

[7]

待测物重心确定的方法 [P].

刘大为 ;

田鸿翔 ;

杨剑 ;

李启明 ;

李腾 ;

田仲伟 ;

马铭远 .

中国专利 :CN106044566A ,2016-10-26

[8]

检测待测物的缺陷深度的系统及方法 [P].

吴金来 ;

郑加传 ;

彭朋畿 ;

姬俊宇 .

中国专利 :CN103134822A ,2013-06-05

[9]

微型待测物载具 [P].

吴俊霖 ;

黄国玮 .

中国专利 :CN116412853B ,2025-11-21

[10]

SAR待测物定位装置 [P].

汪晓波 ;

凌晨 .

中国专利 :CN220279382U ,2024-01-02

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