检测待测物的缺陷深度的系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201110373349.6

申请日：

2011-11-22

公开(公告)号：

CN103134822A

公开(公告)日：

2013-06-05

发明(设计)人：

吴金来郑加传彭朋畿姬俊宇

申请人：

申请人地址：

中国台湾新竹科学工业园区

IPC主分类号：

G01N2304

IPC分类号：

G01B1500

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司 11127

代理人：

任默闻

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-07-10	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101486722008 IPC(主分类):G01N 23/04 专利申请号:2011103733496 申请日:20111122
2013-06-05	公开	公开
2015-08-12	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101719111781 IPC(主分类):G01N 23/04 专利申请号:2011103733496 申请公布日:20130605

共 50 条

[1]

量测待测物长度的系统及方法 [P].

陈吉宝 .

中国专利 :CN104729443A ,2015-06-24

[2]

待测物的检测方法和检测设备 [P].

何小凤 ;

李青格乐 ;

王岩松 .

中国专利 :CN119008456A ,2024-11-22

[3]

待测物的检测方法和检测设备 [P].

何小凤 ;

李青格乐 ;

王岩松 .

中国专利 :CN119008456B ,2025-11-18

[4]

检测待测物的试剂及其方法 [P].

G·P·雷 ;

G·S·阿加沃 ;

S·M·P·雷杰 ;

K·瑟卡拉 ;

A·K·苏德 ;

A·S·尼吉 .

中国专利 :CN101680894A ,2010-03-24

[5]

获取待测物检测信息的检测设备及检测方法 [P].

李永胜 ;

史坡 ;

沈佩钏 ;

邹俊浩 ;

梅欢 ;

胡星 .

中国专利 :CN118511067A ,2024-08-16

[6]

检测待测物孔隙率的方法 [P].

李炳坤 ;

范国凌 ;

唐代春 ;

杜鑫鑫 ;

曾炯 ;

邱伟 .

中国专利 :CN115112544A ,2022-09-27

[7]

待测物的电化学检测方法 [P].

铃木誓吾 ;

清家圣嘉 ;

岩永茂树 ;

堀信康 ;

桐村浩哉 .

中国专利 :CN102539506B ,2012-07-04

[8]

待测物的接触检查系统 [P].

姜富元 ;

陈昭旭 ;

王耀南 .

中国专利 :CN101846710B ,2010-09-29

[9]

检测待测物的基台装置 [P].

刘峻 .

中国专利 :CN207576453U ,2018-07-06

[10]

待测物的辅助对位方法与其系统 [P].

汪光夏 ;

邱诗彰 ;

吕彦德 ;

曹育铭 .

中国专利 :CN103424407A ,2013-12-04

← 1 2 3 4 5 →