量测系统与量测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201711187635.7

申请日：

2017-11-24

公开(公告)号：

CN107966625A

公开(公告)日：

2018-04-27

发明(设计)人：

张钰林童凯炀林茂青

申请人：

申请人地址：

201112 上海市闵行区浦星路789号

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

代理机构：

北京先进知识产权代理有限公司 11648

代理人：

赵志显;刘海英

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-05-22	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/00 申请日:20171124
2021-03-19	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01R 31/00 申请公布日:20180427
2018-04-27	公开	公开

共 50 条

[1]

量测装置与量测方法 [P].

陈恒毅 ;

高瑞宏 ;

陈文杰 ;

曾尚德 .

中国专利 :CN103852484B ,2014-06-11

[2]

量测方法与量测装置 [P].

吴周霖 ;

黄国忠 ;

李锟 .

中国专利 :CN102692207B ,2012-09-26

[3]

光学量测系统、光学量测装置及其量测方法 [P].

吴世傑 ;

林典瑩 ;

林辰泰 ;

庄世昌 .

中国专利 :CN109282750B ,2019-01-29

[4]

量测卡、量测系统及量测方法 [P].

张育维 ;

杨茆世芳 ;

马天彦 .

中国专利 :CN117804330A ,2024-04-02

[5]

量测装置、量测补偿系统、量测方法及量测补偿方法 [P].

李想 .

中国专利 :CN115597510A ,2023-01-13

[6]

导热膏厚度的量测方法、量测系统与量测模块 [P].

林哲熙 ;

罗登男 .

中国专利 :CN101063606A ,2007-10-31

[7]

量测系统、量测方法及其计量量测装置 [P].

刘颖昌 ;

戴君如 .

中国专利 :CN102401880A ,2012-04-04

[8]

量测系统、量测方法及存储介质 [P].

熊金磊 ;

范学仕 ;

臧笑妍 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN117781899A ,2024-03-29

[9]

光谱量测系统、光谱量测装置、光学量测方法与光学校正方法 [P].

洪健翔 ;

林昇旺 ;

郑旭峯 .

中国专利 :CN108318137B ,2018-07-24

[10]

表面量测方法及表面量测系统 [P].

周智川 ;

杨沛哲 ;

陈建国 .

中国专利 :CN108662992B ,2018-10-16

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