光谱量测系统、光谱量测装置、光学量测方法与光学校正方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710032473.3

申请日：

2017-01-16

公开(公告)号：

CN108318137B

公开(公告)日：

2018-07-24

发明(设计)人：

洪健翔林昇旺郑旭峯

申请人：

申请人地址：

中国台湾新竹市关新路27号9楼5号

IPC主分类号：

G01J328

IPC分类号：

G01J302

代理机构：

北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315

代理人：

李有财

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-07-24	公开	公开
2021-09-17	授权	授权
2020-04-17	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 3/28 申请日:20170116

共 50 条

[1]

光学量测系统、光学量测装置及其量测方法 [P].

吴世傑 ;

林典瑩 ;

林辰泰 ;

庄世昌 .

中国专利 :CN109282750B ,2019-01-29

[2]

光学波前量测系统及光学波前量测方法 [P].

吴承勳 ;

邱健荣 .

中国专利 :CN110231149A ,2019-09-13

[3]

光学量测系统及承载结构与光学量测方法 [P].

洪健翔 ;

叶展良 .

中国专利 :CN103323104B ,2013-09-25

[4]

量测系统与量测方法 [P].

张钰林 ;

童凯炀 ;

林茂青 .

中国专利 :CN107966625A ,2018-04-27

[5]

光学量测系统 [P].

郝祖德 ;

傅荔暄 ;

郑莹钦 ;

赖杰宏 .

中国专利 :CN212459405U ,2021-02-02

[6]

光学量测系统、光学量测方法及存储介质 [P].

庄源 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN117450929B ,2024-03-22

[7]

光学量测系统、光学量测方法及存储介质 [P].

庄源 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN117450929A ,2024-01-26

[8]

振动的光学量测方法及光学量测系统 [P].

侯博勋 ;

陈鹏仁 ;

陈嘉昌 .

中国专利 :CN101750142A ,2010-06-23

[9]

光学量测设备及其校正方法 [P].

叶肇懿 ;

周蒋云 ;

王思奇 ;

杨雅筑 .

中国专利 :CN114894712A ,2022-08-12

[10]

光学量测装置以及间隙量测方法 [P].

刘冠贤 ;

高定甲 ;

洪颢庭 ;

王一鸥 ;

蔡侑宏 ;

黄渤弘 .

中国专利 :CN106482653A ,2017-03-08

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