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一种可同时测试多个待测芯片的测试装置
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510954244.1
申请日：
2025-07-11
公开(公告)号：
CN120846974A
公开(公告)日：
2025-10-28
发明(设计)人：
李亮
王杨
申请人：
苏州芯昱安电子科技有限公司
申请人地址：
215011 江苏省苏州市高新区金燕路8号阳山科技工业园2号1层、2号2层、2号3层、2号4层
IPC主分类号：
G01N21/01
IPC分类号：
G01N21/88
G01N21/95
代理机构：
北京金硕果知识产权代理事务所(普通合伙) 11259
代理人：
陆子龙
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-10-28 | 公开 | 公开 |
| 2025-11-14 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/01申请日:20250711 |