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内存芯片测试装置
被引:0
申请号
:
CN202222677617.X
申请日
:
2022-10-12
公开(公告)号
:
CN218240316U
公开(公告)日
:
2023-01-06
发明(设计)人
:
陈晖
申请人
:
申请人地址
:
518000 广东省深圳市坪山区龙田街道老坑社区锦绣中路19号美讯数码科技厂区1号厂房B1202A
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
G01R104
代理机构
:
深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542
代理人
:
王敏睿
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2023-01-06
授权
授权
共 50 条
[1]
多个内存芯片同时测试的测试装置
[P].
杨瑞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨瑞
.
中国专利
:CN215417542U
,2022-01-04
[2]
一种内存芯片测试装置
[P].
吴茂兵
论文数:
0
引用数:
0
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0
吴茂兵
;
卢焦
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
卢焦
.
中国专利
:CN216622604U
,2022-05-27
[3]
内存条芯片测试装置
[P].
谢森华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
谢森华
.
中国专利
:CN207781209U
,2018-08-28
[4]
内存测试装置以及内存测试方法
[P].
张磊
论文数:
0
引用数:
0
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0
张磊
;
陈世兴
论文数:
0
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0
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0
陈世兴
;
罗文良
论文数:
0
引用数:
0
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0
罗文良
;
颜振亮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
颜振亮
.
中国专利
:CN112382333A
,2021-02-19
[5]
一种基于内存模组的内存芯片测试装置
[P].
谭少鹏
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市德明利技术股份有限公司
深圳市德明利技术股份有限公司
谭少鹏
;
田宗仁
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市德明利技术股份有限公司
深圳市德明利技术股份有限公司
田宗仁
;
李保童
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市德明利技术股份有限公司
深圳市德明利技术股份有限公司
李保童
.
中国专利
:CN223401390U
,2025-09-30
[6]
光电芯片测试装置
[P].
谢翔
论文数:
0
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0
谢翔
;
吴宏
论文数:
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0
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0
吴宏
;
王丹
论文数:
0
引用数:
0
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0
王丹
.
中国专利
:CN216622581U
,2022-05-27
[7]
内存芯片测试组件及测试模块
[P].
赵际云
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
皇虎测试科技(深圳)有限公司
皇虎测试科技(深圳)有限公司
赵际云
.
中国专利
:CN222734242U
,2025-04-08
[8]
芯片测试装置
[P].
汤华杰
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
紫光同芯微电子有限公司
紫光同芯微电子有限公司
汤华杰
;
马文远
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
紫光同芯微电子有限公司
紫光同芯微电子有限公司
马文远
;
陈凝
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
紫光同芯微电子有限公司
紫光同芯微电子有限公司
陈凝
.
中国专利
:CN221686566U
,2024-09-10
[9]
芯片测试装置
[P].
吴骁
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海晟矽微电子股份有限公司
上海晟矽微电子股份有限公司
吴骁
.
中国专利
:CN220730364U
,2024-04-05
[10]
芯片测试装置
[P].
朱玥琦
论文数:
0
引用数:
0
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0
朱玥琦
;
武恒文
论文数:
0
引用数:
0
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武恒文
;
朱捷
论文数:
0
引用数:
0
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0
朱捷
.
中国专利
:CN215007530U
,2021-12-03
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