内存芯片测试装置

被引:0
申请号
CN202222677617.X
申请日
2022-10-12
公开(公告)号
CN218240316U
公开(公告)日
2023-01-06
发明(设计)人
陈晖
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市坪山区龙田街道老坑社区锦绣中路19号美讯数码科技厂区1号厂房B1202A
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G01R104
代理机构
深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542
代理人
王敏睿
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
多个内存芯片同时测试的测试装置 [P]. 
杨瑞 .
中国专利 :CN215417542U ,2022-01-04
[2]
一种内存芯片测试装置 [P]. 
吴茂兵 ;
卢焦 .
中国专利 :CN216622604U ,2022-05-27
[3]
内存条芯片测试装置 [P]. 
谢森华 .
中国专利 :CN207781209U ,2018-08-28
[4]
内存测试装置以及内存测试方法 [P]. 
张磊 ;
陈世兴 ;
罗文良 ;
颜振亮 .
中国专利 :CN112382333A ,2021-02-19
[5]
一种基于内存模组的内存芯片测试装置 [P]. 
谭少鹏 ;
田宗仁 ;
李保童 .
中国专利 :CN223401390U ,2025-09-30
[6]
光电芯片测试装置 [P]. 
谢翔 ;
吴宏 ;
王丹 .
中国专利 :CN216622581U ,2022-05-27
[7]
内存芯片测试组件及测试模块 [P]. 
赵际云 .
中国专利 :CN222734242U ,2025-04-08
[8]
芯片测试装置 [P]. 
汤华杰 ;
马文远 ;
陈凝 .
中国专利 :CN221686566U ,2024-09-10
[9]
芯片测试装置 [P]. 
吴骁 .
中国专利 :CN220730364U ,2024-04-05
[10]
芯片测试装置 [P]. 
朱玥琦 ;
武恒文 ;
朱捷 .
中国专利 :CN215007530U ,2021-12-03