内存芯片测试组件及测试模块

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421130359.6

申请日：

2024-05-22

公开(公告)号：

CN222734242U

公开(公告)日：

2025-04-08

发明(设计)人：

赵际云

申请人：

皇虎测试科技（深圳）有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区西丽街道松坪山社区科技北二路25号航天微电机厂房科研楼B座二层

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/04 B07C5/344

代理机构：

深圳市金博仕知识产权代理有限公司 441040

代理人：

刘飞

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-08	授权	授权

共 50 条

[1]

内存芯片超频测试模块 [P].

洪康宁 .

中国专利 :CN209947446U ,2020-01-14

[2]

内存芯片测试装置 [P].

陈晖 .

中国专利 :CN218240316U ,2023-01-06

[3]

内存芯片超频测试模块及其方法 [P].

洪康宁 .

中国专利 :CN112309492A ,2021-02-02

[4]

内存芯片超频测试模块及其方法 [P].

洪康宁 .

中国专利 :CN112309492B ,2025-01-17

[5]

内存芯片自动测试机 [P].

林勇 .

中国专利 :CN221754021U ,2024-09-24

[6]

多个内存芯片同时测试的测试装置 [P].

杨瑞 .

中国专利 :CN215417542U ,2022-01-04

[7]

存储芯片测试组件及存储芯片测试系统 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘小刚 ;

王万军 .

中国专利 :CN214428332U ,2021-10-19

[8]

IC芯片测试组件 [P].

马磊 ;

党鹏 ;

杨光 ;

彭小虎 ;

王新刚 ;

庞朋涛 .

中国专利 :CN220872610U ,2024-04-30

[9]

CAF测试模块、测试夹具及测试组件 [P].

周波 ;

沈江华 ;

何骁 ;

贺光辉 ;

邹雅冰 ;

杨颖 ;

李星星 .

中国专利 :CN111257731A ,2020-06-09

[10]

内存芯片自测试电路和内存芯片自测试方法 [P].

古城 ;

王晓阳 ;

何亚军 .

中国专利 :CN117524287A ,2024-02-06

← 1 2 3 4 5 →