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一种电源芯片寿命测试装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201820751954.X
申请日：
2018-05-21
公开(公告)号：
CN208171335U
公开(公告)日：
2018-11-30
发明(设计)人：
高书鹏
黎华伟
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市宝安区新安街道67区留仙一路甲岸科技园一号厂房8楼4区
IPC主分类号：
G01D2102
IPC分类号：
代理机构：
深圳汇策知识产权代理事务所(普通合伙) 44487
代理人：
迟芳
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2018-11-30 | 授权 | 授权 |
| 2022-05-06 | 专利权的终止 | 未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01D 21/02 申请日:20180521 授权公告日:20181130 终止日期:20210521 |