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一种芯片测试装置

被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201720931259.7
申请日：
2017-07-28
公开(公告)号：
CN207081752U
公开(公告)日：
2018-03-09
发明(设计)人：
刘净月 庞明奇 赵鹏 刘路扬 陈波 杨景阳
申请人：
申请人地址：
100085 北京市海淀区永定路50号
IPC主分类号：
G01R104
IPC分类号：
代理机构：
北京风雅颂专利代理有限公司 11403
代理人：
张拥
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2018-03-09 授权 授权
共 50 条
[1]
一种芯片测试装置 [P]. 
李明 ;
郭晓旭 ;
樊晓华 ;
边海波 .
中国专利 :CN217360170U ,2022-09-02
[2]
芯片测试系统及芯片测试装置 [P]. 
焦继业 ;
刘俊波 ;
李辉 ;
王暾烜 .
中国专利 :CN217766725U ,2022-11-08
[3]
一种芯片测试装置 [P]. 
余永庆 ;
唐章海 ;
王伟 .
中国专利 :CN217846551U ,2022-11-18
[4]
一种芯片测试装置 [P]. 
冯国淇 ;
覃宗鹏 .
中国专利 :CN221993589U ,2024-11-12
[5]
一种芯片测试装置 [P]. 
刘晨 .
中国专利 :CN215986374U ,2022-03-08
[6]
一种芯片测试装置 [P]. 
何士龙 .
中国专利 :CN213398652U ,2021-06-08
[7]
一种芯片测试装置 [P]. 
姜磊 ;
刘敬伟 ;
仝飞 .
中国专利 :CN209728113U ,2019-12-03
[8]
一种芯片测试装置 [P]. 
向奕 ;
吴静 ;
吴利 ;
王萌 .
中国专利 :CN217360174U ,2022-09-02
[9]
一种芯片测试装置 [P]. 
李克贵 ;
何建军 ;
杨飞瑶 .
中国专利 :CN222762201U ,2025-04-15
[10]
一种芯片测试装置 [P]. 
李关辉 ;
李清龙 ;
李永华 ;
吴庆全 .
中国专利 :CN221124785U ,2024-06-11
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