一种电源芯片测试装置

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申请号
CN202221284266.X
申请日
2022-05-26
公开(公告)号
CN218099460U
公开(公告)日
2022-12-20
发明(设计)人
陆锟 蔡振宇 李峰 张浩衡
申请人
申请人地址
519180 广东省珠海市斗门区新青科技工业园内B型厂房
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G01R3140
代理机构
广州市红荔专利代理有限公司 44214
代理人
黄嘉玲
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种电源芯片寿命测试装置 [P]. 
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黎华伟 .
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[2]
一种电源芯片的测试装置 [P]. 
孙志松 .
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[3]
一种电源芯片生产用的测试装置 [P]. 
蒋向阳 .
中国专利 :CN218496963U ,2023-02-17
[4]
一种电源管理芯片测试装置 [P]. 
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[5]
一种芯片测试装置 [P]. 
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[6]
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[7]
一种芯片测试装置 [P]. 
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庞明奇 ;
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[8]
一种电源IC芯片的测试装置 [P]. 
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[9]
电源芯片测试装置及系统 [P]. 
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[10]
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李辉 ;
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