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一种电源芯片测试装置
被引:0
申请号
:
CN202221284266.X
申请日
:
2022-05-26
公开(公告)号
:
CN218099460U
公开(公告)日
:
2022-12-20
发明(设计)人
:
陆锟
蔡振宇
李峰
张浩衡
申请人
:
申请人地址
:
519180 广东省珠海市斗门区新青科技工业园内B型厂房
IPC主分类号
:
G01R3128
IPC分类号
:
G01R3140
代理机构
:
广州市红荔专利代理有限公司 44214
代理人
:
黄嘉玲
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-12-20
授权
授权
共 50 条
[1]
一种电源芯片寿命测试装置
[P].
高书鹏
论文数:
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高书鹏
;
黎华伟
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黎华伟
.
中国专利
:CN208171335U
,2018-11-30
[2]
一种电源芯片的测试装置
[P].
孙志松
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孙志松
.
中国专利
:CN215449506U
,2022-01-07
[3]
一种电源芯片生产用的测试装置
[P].
蒋向阳
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蒋向阳
.
中国专利
:CN218496963U
,2023-02-17
[4]
一种电源管理芯片测试装置
[P].
翟锋
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翟锋
;
孔晓琳
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孔晓琳
.
中国专利
:CN201417297Y
,2010-03-03
[5]
一种芯片测试装置
[P].
向奕
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向奕
;
吴静
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吴静
;
吴利
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吴利
;
王萌
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王萌
.
中国专利
:CN217360174U
,2022-09-02
[6]
一种芯片测试装置
[P].
李明
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李明
;
郭晓旭
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郭晓旭
;
樊晓华
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樊晓华
;
边海波
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边海波
.
中国专利
:CN217360170U
,2022-09-02
[7]
一种芯片测试装置
[P].
刘净月
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刘净月
;
庞明奇
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庞明奇
;
赵鹏
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赵鹏
;
刘路扬
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刘路扬
;
陈波
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陈波
;
杨景阳
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杨景阳
.
中国专利
:CN207081752U
,2018-03-09
[8]
一种电源IC芯片的测试装置
[P].
谢志斌
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机构:
深圳圆融达微电子技术有限公司
深圳圆融达微电子技术有限公司
谢志斌
;
谢森华
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机构:
深圳圆融达微电子技术有限公司
深圳圆融达微电子技术有限公司
谢森华
.
中国专利
:CN222887710U
,2025-05-20
[9]
电源芯片测试装置及系统
[P].
晏显栋
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机构:
中科可控信息产业有限公司
中科可控信息产业有限公司
晏显栋
;
王若宇
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机构:
中科可控信息产业有限公司
中科可控信息产业有限公司
王若宇
;
沙祥彪
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机构:
中科可控信息产业有限公司
中科可控信息产业有限公司
沙祥彪
.
中国专利
:CN120275807A
,2025-07-08
[10]
芯片测试系统及芯片测试装置
[P].
焦继业
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焦继业
;
刘俊波
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刘俊波
;
李辉
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李辉
;
王暾烜
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王暾烜
.
中国专利
:CN217766725U
,2022-11-08
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