一种热电堆芯片批量测试装置及方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010550074.8
申请日
2020-06-16
公开(公告)号
CN111579915A
公开(公告)日
2020-08-25
发明(设计)人
夏贤冲 严江荣 颜天宝
申请人
申请人地址
528500 广东省佛山市高明区杨和镇沧江工业园和顺路372号
IPC主分类号
G01R3101
IPC分类号
G01R3128 G01J514
代理机构
佛山信智汇知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44629
代理人
郭文娟
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种热电堆芯片批量测试装置 [P]. 
夏贤冲 ;
严江荣 ;
颜天宝 .
中国专利 :CN212321757U ,2021-01-08
[2]
热电堆芯片测试装置 [P]. 
陈明旭 ;
杨晓寒 ;
何禹鸣 ;
周祺 ;
陈佳霞 ;
赵明浩 ;
康健力 .
中国专利 :CN120669085A ,2025-09-19
[3]
一种边缘计算设备的批量测试装置 [P]. 
刘星 ;
杨晓光 ;
齐文钊 .
中国专利 :CN215729731U ,2022-02-01
[4]
芯片批量测试装置 [P]. 
桂义勇 ;
张伟祥 .
中国专利 :CN223205519U ,2025-08-08
[5]
一种芯片批量测试装置 [P]. 
王成 ;
王超 .
中国专利 :CN222461501U ,2025-02-11
[6]
一种热电堆芯片及热电堆芯片的制备方法 [P]. 
刘飞 ;
徐德辉 ;
蒋万里 ;
张德阳 .
中国专利 :CN118765152A ,2024-10-11
[7]
压阻芯片批量测试装置及测试方法 [P]. 
王立会 ;
李月 ;
魏秋旭 ;
任艳飞 ;
张韬楠 ;
郭伟龙 ;
常文博 ;
丁丁 .
中国专利 :CN115684876A ,2023-02-03
[8]
电池材料测试装置及方法 [P]. 
唐永炳 ;
谢呈德 ;
徐子俊 .
中国专利 :CN109283087B ,2019-01-29
[9]
一种热电堆传感器的测试装置 [P]. 
刘永灿 .
中国专利 :CN214621496U ,2021-11-05
[10]
一种芯片、芯片测试方法及芯片测试装置 [P]. 
方志强 .
中国专利 :CN120352753A ,2025-07-22