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一种海面反向散射强度测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202010552040.2
申请日
:
2020-06-17
公开(公告)号
:
CN111650159A
公开(公告)日
:
2020-09-11
发明(设计)人
:
阚光明
刘保华
戚乐华
杨志国
于盛齐
于凯本
李官保
王景强
裴彦良
刘晨光
申请人
:
申请人地址
:
266061 山东省青岛市崂山区仙霞岭路6号
IPC主分类号
:
G01N2147
IPC分类号
:
代理机构
:
北京高沃律师事务所 11569
代理人
:
崔玥
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-10-13
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/47 申请日:20200617
2020-09-11
公开
公开
共 50 条
[1]
一种海底反向散射强度测量方法
[P].
于盛齐
论文数:
0
引用数:
0
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0
于盛齐
;
刘保华
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0
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刘保华
;
于凯本
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于凯本
.
中国专利
:CN108398690A
,2018-08-14
[2]
一种反向散射信号强度测量方法
[P].
许荣涛
论文数:
0
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许荣涛
;
王公仆
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王公仆
;
沈超
论文数:
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沈超
;
丁寒雪
论文数:
0
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丁寒雪
;
杜英杰
论文数:
0
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杜英杰
;
王文
论文数:
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王文
;
曹水泠
论文数:
0
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曹水泠
.
中国专利
:CN114039680B
,2022-02-11
[3]
一种散射测量装置及散射测量方法
[P].
周钰颖
论文数:
0
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0
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0
周钰颖
.
中国专利
:CN113124751B
,2021-07-16
[4]
一种散射测量装置及散射测量方法
[P].
周钰颖
论文数:
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周钰颖
;
王帆
论文数:
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王帆
.
中国专利
:CN112764317A
,2021-05-07
[5]
海面测量系统、海面测量方法以及存储介质
[P].
卢存伟
论文数:
0
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0
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卢存伟
.
中国专利
:CN111435081B
,2020-07-21
[6]
散射测量方法及散射测量装置
[P].
邹峥
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机构:
杭州积海半导体有限公司
杭州积海半导体有限公司
邹峥
;
贺军
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机构:
杭州积海半导体有限公司
杭州积海半导体有限公司
贺军
;
吴乐忠
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机构:
杭州积海半导体有限公司
杭州积海半导体有限公司
吴乐忠
.
中国专利
:CN118464843B
,2024-11-15
[7]
散射测量方法及散射测量装置
[P].
邹峥
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机构:
杭州积海半导体有限公司
杭州积海半导体有限公司
邹峥
;
贺军
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机构:
杭州积海半导体有限公司
杭州积海半导体有限公司
贺军
;
吴乐忠
论文数:
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机构:
杭州积海半导体有限公司
杭州积海半导体有限公司
吴乐忠
.
中国专利
:CN118464843A
,2024-08-09
[8]
海面测量系统、海面测量方法以及存储介质
[P].
卢存伟
论文数:
0
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卢存伟
.
中国专利
:CN114485579A
,2022-05-13
[9]
海面测量系统、海面测量方法以及存储介质
[P].
卢存伟
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
学校法人福冈工业大学
学校法人福冈工业大学
卢存伟
.
日本专利
:CN114526710B
,2025-02-14
[10]
海面测量系统、海面测量方法以及存储介质
[P].
卢存伟
论文数:
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引用数:
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0
机构:
学校法人福冈工业大学
学校法人福冈工业大学
卢存伟
.
日本专利
:CN114485579B
,2024-10-29
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