一种存储设备测试方法、装置及电子设备和存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202110949565.4
申请日
2021-08-18
公开(公告)号
CN113760619A
公开(公告)日
2021-12-07
发明(设计)人
邴栋
申请人
申请人地址
215100 江苏省苏州市吴中区吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
IPC主分类号
G06F1122
IPC分类号
H04B10079
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
史翠
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种存储设备测试方法、装置及电子设备和存储介质 [P]. 
胥辂芳 .
中国专利 :CN115482876A ,2022-12-16
[2]
存储设备的测试方法和装置、存储介质及电子设备 [P]. 
刘聖福 ;
吴丰硕 ;
刘福东 .
中国专利 :CN120762984B ,2025-11-21
[3]
存储设备的测试方法和装置、存储介质及电子设备 [P]. 
刘聖福 ;
吴丰硕 ;
刘福东 .
中国专利 :CN120762984A ,2025-10-10
[4]
一种存储设备控制方法、装置及电子设备和存储介质 [P]. 
李美欣 .
中国专利 :CN110572459A ,2019-12-13
[5]
测试方法和装置、电子设备和可读存储介质 [P]. 
钟俊宇 .
中国专利 :CN115379201A ,2022-11-22
[6]
测试方法和装置、电子设备和可读存储介质 [P]. 
钟俊宇 .
中国专利 :CN115379200B ,2025-08-19
[7]
测试方法和装置、电子设备和可读存储介质 [P]. 
钟俊宇 .
中国专利 :CN115379200A ,2022-11-22
[8]
一种存储设备的测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
王雷 ;
姚香君 ;
周永旺 .
中国专利 :CN120496612A ,2025-08-15
[9]
一种测试方法、装置及电子设备和存储介质 [P]. 
石涛 .
中国专利 :CN114443386A ,2022-05-06
[10]
一种测试方法、装置及电子设备和存储介质 [P]. 
黄岚岚 .
中国专利 :CN115525514A ,2022-12-27